[發明專利]光強檢測電路和方法無效
| 申請號: | 201210457913.7 | 申請日: | 2012-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN102937479A | 公開(公告)日: | 2013-02-20 |
| 發明(設計)人: | 曹靖;白蓉蓉;孫慶余;王文靜 | 申請(專利權)人: | 北京昆騰微電子有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/44 | 分類號: | G01J1/44 |
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| 地址: | 100195 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 電路 方法 | ||
1.一種光強檢測電路,其特征在于,包括:
感光模塊,一端連接參考電壓端,用于在光照的激勵下產生流經所述感光模塊的電流,所述感光模塊包括兩個以上并聯連接的光電轉換組件,所述光電轉換組件產生的電流的方向不完全相同;
電壓檢測模塊,與所述感光模塊的另一端連接,用于檢測所述感光模塊兩端的電壓,所述電壓與所述光照的光強信息存在映射關系;
光強信息獲取模塊,用于根據所述電壓,獲取所述光照的光強信息;
其中,所述感光模塊、所述電壓檢測模塊和所述光強信息獲取模塊集成在單個的集成電路中。
2.根據權利要求1所述的光強檢測電路,其特征在于,所述集成電路被構造為采用互補金屬氧化物半導體工藝制造。
3.根據權利要求1所述的光強檢測電路,其特征在于,所述感光模塊包括兩個光電轉換組件。
4.根據權利要求1或3所述的光強檢測電路,其特征在于,所述光電轉換組件為光電二極管。
5.根據權利要求1所述的光強檢測電路,其特征在于,所述光強信息獲取模塊為模數轉換器。
6.根據權利要求1所述的光強檢測電路,其特征在于,所述光強信息獲取模塊為比較器。
7.一種光強檢測方法,其特征在于,包括:
通過感光模塊,在光照的激勵下產生流經所述感光模塊的電流,其中,所述感光模塊的一端連接參考電壓端,所述感光模塊包括兩個以上并聯連接的光電轉換組件,所述光電轉換組件產生的電流的方向不完全相同;
檢測所述感光模塊兩端的電壓,所述電壓與所述光照的光強信息存在映射關系;
根據所述電壓,獲取所述光照的光強信息;
上述所有步驟在單個的集成電路中完成。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述集成電路采用互補金屬氧化物半導體工藝制造。
9.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述感光模塊包括兩個光電轉換組件。
10.根據權利要求7或9所述的方法,其特征在于,所述光電轉換組件為光電二極管。
11.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述獲取所述光照的光強信息具體為:對所述電壓進行模數轉換處理,獲取所述光照的光強信息。
12.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述獲取所述光照的光強信息具體為:將所述電壓與預定閾值進行比較,根據比較結果確定所述光照的光強信息。
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