[發明專利]一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法和儀器有效
| 申請號: | 201210451541.7 | 申請日: | 2012-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN102967590A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發明(設計)人: | 劉霽欣;馮禮;鄭逢喜;路東;李俊偉 | 申請(專利權)人: | 北京吉天儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N1/44 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100015 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 直接 同時 測定 方法 儀器 | ||
1.一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法,其特征在于,包括以下步驟:
樣品灰化過程:在有氧氣氛下,加熱樣品,溫度控制在120-500℃,樣品中大部分汞和分解物析出蒸發;由空氣氣流(8)將汞和析出物載入管式催化爐(3)中進一步分解,汞被汞捕集阱(4)吸收,鎘仍存在于樣品中;
熱裂解、汽化:將前述處理后樣品置于裂解爐(6)中,裂解爐(6)爐溫度是1600-2000℃,進一步熱分解,樣品中鎘和殘余的汞被高溫汽化;
捕獲與吸收:上述汽化出來的物質,由氬氣(9)載帶先后進入鎘原子捕集阱(5)和汞捕集阱(4),鎘被鎘原子捕集阱(5)中的鎢絲或鉬絲選擇性捕獲之后,殘余的汞被汞捕集阱(4)吸收;
被釋放與檢測分析:在氬氫氣氛中,先后將鎢絲或鉬絲、金汞加熱,鎘、汞先后釋放出來,由氬氫氣(10)載帶進入原子熒光光譜儀(12)中檢測分析。
2.根據權利要求1所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法,其特征在于,所述金汞是在樣品灰化過程中,在汞被汞捕集阱(4)吸收后,與所述汞捕集阱(4)中的負金吸附劑所形成。
3.根據權利要求1所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法,其特征在于,所述裂解爐(6)處于氬氣氣氛保護下。
4.根據權利要求1所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法,其特征在于,所述裂解爐(6)是碳素裂解爐。
5.根據權利要求1所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的方法,其特征在于,所述氬氫氣氛,氫氣含量的體積百分比為10-90%;所述空氣氣流(8)是由空氣壓縮機或鋼瓶提供,且經凈化處理。
6.一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,是一種原子熒光光譜儀,包括進樣系統、光源、原子化器、氣路系統、光路系統、檢測系統、顯示裝置,其特征在于,
所述進樣系統包括進樣聯動部件(1)、管式灰化爐(2)、管式催化爐(3)、電熱蒸發裝置、汞捕集阱(4)和鎘原子捕集阱(5);
所述氣路系統由帶阻尼的轉子流量計和穩壓閥組成。
7.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述管式灰化爐(2)和所述管式催化爐(3)為一體化設計,由加熱爐絲、保溫件、電源和控溫系統組成,固定于儀器底板的一側。
8.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述電熱蒸發裝置由屏蔽罩、蒸發舟、電極、電極托架與電源組成,以及
電極位于蒸發舟的下部,設置在電極托架上,與蒸發舟連接,電源與電極電連接,屏蔽罩與電極托架形成密封空間,所述蒸發舟位于所述密封空間中,屏蔽罩與電極托架活動式連接,屏蔽罩上設有進口和出口,屏蔽罩的出口通過三通管與所述鎘捕集阱(5)的外罩的進口相連。
9.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述汞捕集阱(4)置于鎘捕集阱(5)后,通過夾管閥(7)和電路控制實現先后釋放;由電源供電加熱,從而被捕獲的汞和鎘先后釋放,由氬氫氣(10)載帶進入原子熒光光譜儀(12)中檢測。
10.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述汞捕集阱(4)由貴金屬材料、支架、裝填石英管和電源組成。
11.根據權利要求10所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述貴金屬材料包括金、鉑和銠。
12.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述鎘原子捕集阱(5)由鎢絲或鉬絲、支架、外罩和電源組成,以及
外罩和支架形成密封空間;
鎢絲或鉬絲設置在支架上,且鎢絲或鉬絲位于外罩和支架形成的密封空間中;
外罩上設有進口和出口。
13.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,還包括一種原子熒光光譜儀器,由管式灰化爐(2)、管式催化燃燒爐、電源系統、氣路系統、裂解爐(6)、汞捕集阱(4)、鎘原子捕獲器(5)和夾管閥(7)組成。
14.根據權利要求6所述的一種直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,其特征在于,所述直接進樣同時測定汞和鎘的儀器,還需要與獨立于上述儀器之外的另一個原子熒光光譜儀(12)聯機檢測,由原子化器、檢測系統、光路系統組成。
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