[發(fā)明專利]表層調(diào)查數(shù)據(jù)的模型法靜校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210445241.8 | 申請日: | 2012-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN102944896A | 公開(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周祺;朱敏;唐怡;劉曉斌;楊忠民 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司 |
| 主分類號: | G01V1/36 | 分類號: | G01V1/36 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 羅延紅 |
| 地址: | 610213 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 表層 調(diào)查 數(shù)據(jù) 模型 校正 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及一種基于表層調(diào)查資料的模型法靜校正方法和裝置,尤其涉及一種基于不同類型的表層調(diào)查數(shù)據(jù)建立統(tǒng)一的數(shù)據(jù)平臺,以統(tǒng)一的表層調(diào)查數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)建立近地表模型并進行優(yōu)化,對復(fù)雜的地表調(diào)查資料執(zhí)行靜校正處理的技術(shù)。
背景技術(shù)
幾何地震學(xué)的理論都是假設(shè)觀測面是一個水平面、地下傳播介質(zhì)均勻為前提的,但實際情況并非如此。觀測面并不是一個水平面,通常是起伏不平的,地下傳播介質(zhì)通常也不是均勻的,其表層還存在著低降速帶的橫向變化。因此,野外觀測得到的反射波達到時間,并不滿足雙曲線方程,而是一條畸變了的雙曲線。靜校正就是研究由于地形起伏,地表低降速帶橫向變化對地震波傳播的影響,并對其進行校正,使時距曲線滿足于動校正的雙曲線方程。
在地面地震勘探中,復(fù)雜地表仍是制約地震勘探效果的重要因素。復(fù)雜的地表模型除引起激發(fā)和接收問題外,主要還影響地震資料靜校正的精度,影響疊前時間偏移及水平疊加的成像效果。在表層靜校正方面,目前人們通過對表層模型作不同程度的近似假設(shè)形成了一系列的靜校正方法,主要有以下三種技術(shù):
1、高層靜校正,該方法利用野外測量成果和預(yù)定的基準(zhǔn)面高程以及基準(zhǔn)面和地面之間的速度來計算校正量;
2、折射靜校正,該方法利用地震波從上層介質(zhì)傳播到與下層介質(zhì)的分界面時,當(dāng)入射波以臨界角入射到該界面時,將產(chǎn)生沿界面滑行的折射波,并傳到地面為檢波器所接收,由折射波的初至?xí)r間可估算低降速帶的速度和炮點、檢波點的延遲時間,并由此得到低降速帶的速度/深度模型。
3、層析靜校正,該方法利用初至波(或者是初至波的一部分)反演表層低速帶速度結(jié)構(gòu)并據(jù)此計算靜校正量的方法。
以上的技術(shù)都可歸屬于一次靜校正技術(shù),高程靜校正技術(shù)不能解決山地勘探,山地勘探區(qū)域的地表起伏很大,基準(zhǔn)面不同時兼顧高低兩種情況,地面與基準(zhǔn)面的高差不可避免會出現(xiàn)較大的情況,此外,資料多是長排列采集,炮檢距越大,射線入射角越大,高層靜校正的路徑走時近似相等情況不能得以滿足;折射靜校正需要地下有一套穩(wěn)定的折射層,且該層的橫向速度變化不劇烈,在眾多的山地地形中,折射靜校正的適用范圍受限;層析靜校正利用初至波反演縱、橫向連續(xù)變化的表層低速帶,避免了層狀速度結(jié)構(gòu)的假設(shè),更適合包括山地在內(nèi)的各種復(fù)雜近地表條件表層速度模型的建立,具有更強的適應(yīng)能力,但在初至拾取困難的地區(qū)以及可控震源采集資料中,初至拾取不準(zhǔn)確對層析靜校正精度影響較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于表層調(diào)查資料的模型法靜校正方法和裝置,其基于不同類型的表層調(diào)查數(shù)據(jù)建立統(tǒng)一的數(shù)據(jù)平臺,以統(tǒng)一的表層調(diào)查數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)建立近地表模型并進行優(yōu)化,對復(fù)雜的地表調(diào)查資料執(zhí)行靜校正,從而提高地震資料靜校正的精度。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種表層調(diào)查數(shù)據(jù)的模型法靜校正方法,所述方法包括以下步驟:加載步驟:加載二維或三維的表層調(diào)查數(shù)據(jù);統(tǒng)一處理步驟:對加載的表層調(diào)查數(shù)據(jù)執(zhí)行統(tǒng)一處理,其中,按照時深變化趨勢進行統(tǒng)一分層,并計算每個控制點在各層的速度和厚度參數(shù);建模步驟:基于統(tǒng)一處理的表層調(diào)查數(shù)據(jù)建立二維或三維近地表模型;模型優(yōu)化步驟:采用雙向均值內(nèi)插方法對建立的二維近地表模型執(zhí)行交點模型閉合,或者采用中心區(qū)域平滑方法消除三維近地表模型的模型畸變;靜校正步驟:通過時深曲線關(guān)聯(lián)操作建立二維或三維近地表各層的速度、厚度模型,并計算表層調(diào)查數(shù)據(jù)的模型法靜校正量。
加載的表層調(diào)查數(shù)據(jù)可包括根據(jù)至少一種表層資料采集方法獲得的表層調(diào)查數(shù)據(jù)。
所述表層資料采集方法可包括小折射資料采集方法和微測井采集方法。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供一種表層調(diào)查數(shù)據(jù)的模型法靜校正裝置,所述裝置包括:加載模塊,用于加載二維或三維的表層調(diào)查數(shù)據(jù);統(tǒng)一處理模塊,用于對加載的表層調(diào)查數(shù)據(jù)執(zhí)行統(tǒng)一處理,其中,按照時深變化趨勢進行統(tǒng)一分層,并計算每個控制點在各層的速度和厚度參數(shù);建模模塊,用于基于統(tǒng)一處理的表層調(diào)查數(shù)據(jù)建立二維或三維近地表模型;模型優(yōu)化模塊,用于采用雙向均值內(nèi)插方法對建立的二維近地表模型執(zhí)行交點模型閉合,或者采用中心區(qū)域平滑方法消除三維近地表模型的模型畸變;靜校正模塊,用于通過時深曲線關(guān)聯(lián)操作建立二維或三維近地表模型的模型點與時深曲線的對應(yīng)關(guān)系,并計算表層調(diào)查數(shù)據(jù)的模型法靜校正量。
加載的表層調(diào)查數(shù)據(jù)可包括根據(jù)至少一種表層資料采集方法獲得的表層調(diào)查數(shù)據(jù)。
所述表層資料采集方法可包括小折射資料采集方法和微測井采集方法。
附圖說明
通過下面結(jié)合附圖進行的描述,本發(fā)明的上述和其他目的和特點將會變得更加清楚,其中:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司,未經(jīng)中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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- 數(shù)據(jù)記錄方法、數(shù)據(jù)記錄裝置、數(shù)據(jù)記錄媒體、數(shù)據(jù)重播方法和數(shù)據(jù)重播裝置
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- 數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中繼設(shè)備、數(shù)據(jù)中繼方法及數(shù)據(jù)系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)嵌入裝置、數(shù)據(jù)嵌入方法、數(shù)據(jù)提取裝置及數(shù)據(jù)提取方法
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- 數(shù)據(jù)發(fā)送裝置、數(shù)據(jù)接收裝置、數(shù)據(jù)收發(fā)系統(tǒng)、數(shù)據(jù)發(fā)送方法、數(shù)據(jù)接收方法和數(shù)據(jù)收發(fā)方法
- 數(shù)據(jù)發(fā)送方法、數(shù)據(jù)再現(xiàn)方法、數(shù)據(jù)發(fā)送裝置及數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置
- 數(shù)據(jù)發(fā)送方法、數(shù)據(jù)再現(xiàn)方法、數(shù)據(jù)發(fā)送裝置及數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置





