[發明專利]表層調查數據的模型法靜校正方法有效
| 申請號: | 201210445241.8 | 申請日: | 2012-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN102944896A | 公開(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發明(設計)人: | 周祺;朱敏;唐怡;劉曉斌;楊忠民 | 申請(專利權)人: | 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司 |
| 主分類號: | G01V1/36 | 分類號: | G01V1/36 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286 | 代理人: | 羅延紅 |
| 地址: | 610213 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 表層 調查 數據 模型 校正 方法 | ||
1.一種表層調查數據的模型法靜校正方法,所述方法包括以下步驟:
加載步驟:加載二維或三維的表層調查數據;
統一處理步驟:對加載的表層調查數據執行統一處理,其中,按照時深變化趨勢進行統一分層,并計算每個控制點在各層的速度和厚度參數;
建模步驟:基于統一處理的表層調查數據建立二維或三維近地表模型;
模型優化步驟:采用雙向均值內插方法對建立的二維近地表模型執行交點模型閉合,或者采用中心區域平滑方法消除三維近地表模型的模型畸變;
靜校正步驟:通過時深曲線關聯操作建立二維或三維近地表各層的速度、厚度模型,并計算基于表層調查數據的模型法靜校正量。
2.如權利要求1所述的方法,其中,加載的表層調查數據包括根據至少一種表層資料采集方法獲得的表層調查數據。
3.如權利要求2所述的方法,其中,所述表層資料采集方法包括小折射資料采集方法和微測井采集方法。
4.一種表層調查數據的模型法靜校正裝置,所述裝置包括:
加載模塊,用于加載二維或三維的表層調查數據;
統一處理模塊,用于對加載的表層調查數據執行統一處理,其中,按照時深變化趨勢進行統一分層,并計算每個控制點在各層的速度和厚度參數;
建模模塊,用于基于統一處理的表層調查數據建立二維或三維近地表模型;
模型優化模塊,用于采用雙向均值內插方法對建立的二維近地表模型執行交點模型閉合,或者采用中心區域平滑方法消除三維近地表模型的模型畸變;
靜校正模塊,用于通過時深曲線關聯操作建立二維或三維近地表各層的速度、厚度模型,并計算表層調查數據的模型法靜校正量。
5.如權利要求4所述的裝置,其中,加載的表層調查數據包括根據至少一種表層資料采集方法獲得的表層調查數據。
6.如權利要求5所述的裝置,其中,所述表層資料采集方法包括小折射資料采集方法和微測井采集方法。
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