[發(fā)明專利]分束光柵子光束陣列的位相和光強(qiáng)測(cè)量裝置和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210444533.X | 申請(qǐng)日: | 2012-11-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102944193A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李兵;職亞楠;周煜;戴恩文;孫建鋒;侯培培;劉立人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B11/26 | 分類號(hào): | G01B11/26;G01J1/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分束光 柵子 光束 陣列 位相 測(cè)量 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及位相和光強(qiáng)測(cè)量系統(tǒng),特別是一種分束光柵子光束陣列的位相和光強(qiáng)測(cè)量裝置和方法,它能測(cè)量出分束光柵子光束陣列各衍射級(jí)次之間的位相關(guān)系,同時(shí)也可以得到各衍射級(jí)次的光強(qiáng)分布。
背景技術(shù)
在光纖通信、光計(jì)算、圖像處理和光盤存儲(chǔ)等眾多技術(shù)領(lǐng)域中,經(jīng)常要求將單一光信號(hào)的輸入轉(zhuǎn)變成多信號(hào)的輸出,光學(xué)分束器件可以實(shí)現(xiàn)上述要求。實(shí)現(xiàn)光學(xué)分束器的方法很多,基于夫瑯和費(fèi)衍射原理設(shè)計(jì)的分束光柵(參見(jiàn)H.Dammann,K.High-efficiency?in-line?multiple?imaging?by?means?of?multiple?phaseholograms[J].Opt.Commun.,1971,3(5):312-315和L.A.Romero,and?F.M.Dickey,Theory?of?optimal?beam?splitting?by?phase?gratings.I.One-dimensional?gratings,J.Opt.Soc.Am.A?24,2280-2295(2007).)因效率高,光束分布均勻性不受入射光強(qiáng)分布影響等優(yōu)點(diǎn)成為目前最有效的分束器件之一。
傳統(tǒng)的分束光柵,可將入射光場(chǎng)分成等光強(qiáng)或具有特定光強(qiáng)分布的子光束陣列(參見(jiàn)S.X.Li,G.Yu,C.Y.Zheng,and?Q.F.Tan,Quasi-Dammann?grating?withproportional?intensity?array?spots,Opt.Lett.33,2023-2025(2008)),對(duì)于分束效果的討論僅限于子光束陣列的光強(qiáng)(光強(qiáng)均勻性或與所需特定光強(qiáng)分布的一致性),而對(duì)于子光束陣列的位相值沒(méi)有討論。技術(shù)的發(fā)展對(duì)于分束光柵子光束陣列的位相值也提出了要求,例如基于衍射光柵的相干合束中(參見(jiàn)閆愛(ài)民,劉立人,戴恩文,孫建鋒.相干陣列激光逆達(dá)曼光柵合束孔徑裝填裝置[Z].CN101592783,2009.),相位補(bǔ)償板的加工是基于分束光柵子光束位相陣列之間的位相關(guān)系(參見(jiàn)A.Yan,L.Liu,E.Dai?etal..Simultaneous?beam?combination?and?aperture?filling?of?coherent?laser?arrays?byconjugate?Dammann?gratings[J].Opt.Lett.,2010,35(8):1251-1253和D.Pab?uf,F.Emaury,S.de?Rossi,R.Mercier,G.Lucas-Leclin,and?P.Georges,Coherent?beamsuperposition?of?ten?diode?lasers?with?a?Dammann?grating,Opt.Lett.35,1515-1517(2010))。目前需要對(duì)分束光柵子光束陣列進(jìn)行位相和光強(qiáng)分布的測(cè)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種分束光柵子光束陣列的位相和光強(qiáng)的測(cè)量裝置和方法,該裝置可對(duì)分束光柵子光束陣列的位相和光強(qiáng)進(jìn)行測(cè)量,可以對(duì)分束光柵從位相和光強(qiáng)兩方面同時(shí)進(jìn)行評(píng)價(jià)。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下:
一種分束光柵子光束陣列的位相和光強(qiáng)的測(cè)量裝置,其特點(diǎn)在于其構(gòu)成包括:激光器發(fā)出的入射激光經(jīng)第一分束鏡分成透射光和反射光:所述的透射光經(jīng)第一準(zhǔn)直擴(kuò)束器進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束成平面波后,垂直照射位于傅里葉透鏡前焦面的待測(cè)的分束光柵,經(jīng)第一反射鏡反射后,再經(jīng)第二分光鏡反射,最后進(jìn)入CCD相機(jī),所述的CCD相機(jī)位于所述的傅里葉透鏡的后焦面,該CCD相機(jī)與計(jì)算機(jī)連接;所述的反射光經(jīng)第二反射鏡反射后,先通過(guò)光開(kāi)關(guān),然后通過(guò)光學(xué)相位延遲器,然后通過(guò)第二準(zhǔn)直擴(kuò)束器后成為平面參考光,透射過(guò)第二分光鏡垂直入射所述的CCD相機(jī)。
利用上述分束光柵子光束陣列位相和光強(qiáng)的測(cè)量裝置進(jìn)行位相和光強(qiáng)的測(cè)量方法,其特點(diǎn)在于該方法包括下列步驟:
①將待測(cè)分束光柵置于所述的傅里葉透鏡前焦面;
②打開(kāi)光開(kāi)關(guān),兩路光在所述的CCD相機(jī)接收面干涉,調(diào)整所述的光學(xué)相位延遲器移動(dòng)相位其中i=1、2、3、4,CCD相機(jī)采集四次干涉圖像數(shù)據(jù)并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中分別保存為I1、I2、I3、I4;
③計(jì)算機(jī)根據(jù)下列公式計(jì)算出相應(yīng)的分束光柵子光束陣列的位相
④當(dāng)測(cè)量分束光柵子光束陣列光強(qiáng)時(shí),關(guān)閉光開(kāi)關(guān),所述的CCD相機(jī)采集的光強(qiáng)數(shù)據(jù)即為待測(cè)分束光柵子光束陣列的光強(qiáng)的分布。
本發(fā)明的技術(shù)效果:
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