[發明專利]一種薄膜晶體管及其制作方法、陣列基板和顯示裝置有效
申請號: | 201210440147.3 | 申請日: | 2012-11-06 |
公開(公告)號: | CN103811558B | 公開(公告)日: | 2018-10-30 |
發明(設計)人: | 田宗民;閻長江;謝振宇 | 申請(專利權)人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;H01L29/08;H01L21/336;H01L27/12;H01L21/28;G09F9/33;G09F9/35 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 一種 薄膜晶體管 及其 制作方法 陣列 顯示裝置 | ||
本發明公開了一種薄膜晶體管及其制作方法、陣列基板和顯示裝置,該薄膜晶體管包括:柵極、有源層以及位于柵極和有源層之間的柵極絕緣層,其特征在于,所述柵極絕緣層和有源層之間還設置有晶體材料薄膜層。本發明可克服柵極絕緣層中?OH基團與有源層發生界面反應、以及柵極絕緣層表面被轟擊產生的缺陷,從而優化薄膜晶體管的特性。
技術領域
本發明涉及顯示器技術領域,尤其涉及一種薄膜晶體管及其制作方法、陣列基板和顯示裝置。
背景技術
目前,影響氧化物薄膜晶體管特性穩定的因素很多,比如:柵極絕緣層與有源層的接觸是否良好、因阻擋層材料的特性不同而對外界環境中水分、氧氣的阻擋存在差異,以及有源層的退火溫度和退火時的氣體氛圍等等,本文主要涉及柵極絕緣層與有源層的接觸情況,現有薄膜晶體管的結構如圖1所示。
現有制備薄膜晶體管時,通常是在氬氣(Ar)、氧氣(O2)、或Ar\O2的氣體氛圍下,在柵極絕緣層1上磁控濺射a-銦鎵鋅氧化物(IGZO)有源層2。因聚乙烯吡咯烷酮(PVP)等樹脂材料具備成本低、介電常數較大等優點,通常被用作薄膜晶體管的柵極絕緣層材料。樹脂材料中包含大量的-OH基團,交聯固化后會減少很多,但內部依然會有一些-OH基團,而這些-OH基團并不穩定,會逸出到柵極絕緣層1與有源層2的界面處,與有源層2發生界面反應,從而影響IGZO薄膜的半導體特性,最終影響薄膜晶體管的性能。
此外,磁控濺射IGZO時,氣體中的Ar原子或Ar離子會轟擊樹脂材料的表面,使得柵極絕緣層的表面變粗糙而出現缺陷,這樣,當薄膜晶體管開關工作時,柵極絕緣層的表面處就會產生電荷捕獲的現象,且界面處的-OH基團進一步增多,這將形成一定的柵極漏電流,同樣影響薄膜晶體管的性能。
發明內容
有鑒于此,本發明的主要目的在于提供一種薄膜晶體管及其制作方法、陣列基板和顯示裝置,可克服薄膜晶體管制備過程中柵極絕緣層中-OH基團與有源層發生界面反應、以及柵極絕緣層表面被轟擊產生的缺陷,從而優化薄膜晶體管的特性。
為達到上述目的,本發明的技術方案是這樣實現的:
一種薄膜晶體管,包括柵極、有源層以及位于柵極和有源層之間的柵極絕緣層,所述柵極絕緣層和有源層之間還設置有晶體材料薄膜層。
所述晶體材料薄膜層為透明導電材料。
所述透明導電材料包括有銦錫氧化物、銦鋅氧化物、石墨烯、和單壁碳納米管中的一種或多種。
所述晶體材料薄膜層的圖形大于等于有源層的圖形。
所述薄膜晶體管還包括:設置于基板上的柵極、設置于柵極上的柵極絕緣層、設置于有源層上的阻擋層、設置于有源層和阻擋層上的源漏極、設置于阻擋層和源漏極上的鈍化層;所述晶體材料薄膜層位于所述柵極絕緣層之上,所述有源層位于所述晶體材料薄膜層之上。
所述薄膜晶體管還包括:基板、設置于基板上的源漏極、設置于基板和源漏極上的有源層、設置于有源層上的柵極絕緣層,以及設置于柵極絕緣層之上的柵極;所述晶體材料薄膜層位于所述柵極絕緣層之下,所述有源層位于所述晶體材料薄膜層之下。
所述晶體材料薄膜層的厚度為400~500埃米。
一種陣列基板,包括上述的薄膜晶體管。
一種顯示裝置,包括上述的陣列基板。
一種薄膜晶體管的制作方法,該方法包括:形成包括柵極的圖形、包括有源層的圖形,以及位于柵極層和有源層之間的柵極絕緣層,所述柵極絕緣層和有源層之間形成有晶體材料薄膜層。
在柵極絕緣層和有源層之間形成有晶體材料薄膜層,其制作方法具體包括:在柵極絕緣層之上采用透明導電材料形成晶體材料薄膜層。
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