[發(fā)明專利]一種驗證專用集成電路的裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210433719.5 | 申請日： | 2012-11-02 |
| 公開（公告）號： | CN102981116A | 公開（公告）日： | 2013-03-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王亮;王帥鵬 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京創(chuàng)毅訊聯(lián)科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市隆安律師事務(wù)所 11323 | 代理人： | 權(quán)鮮枝;何立春 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區(qū)中關(guān)村*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 驗證 專用 集成電路 裝置 方法 | ||
1.一種驗證專用集成電路的裝置，該裝置適于驗證長期演進(jìn)專用集成電路LTE?ASIC，其特征在于，該裝置包括：通用串行總線USB接口單元和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元；
所述USB接口單元，用于接收來自測試終端的USB測試數(shù)據(jù)包并發(fā)送給所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，以及，接收來自所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元的USB反饋數(shù)據(jù)包并發(fā)送給所述測試終端，使得所述測試終端能夠根據(jù)發(fā)送的所述USB測試數(shù)據(jù)包和接收的所述USB反饋數(shù)據(jù)對所述LTE?ASIC進(jìn)行驗證；
所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，用于對接收到的所述USB測試數(shù)據(jù)包進(jìn)行解析，并對解析出的第一測試數(shù)據(jù)進(jìn)行速率轉(zhuǎn)換，獲得第二測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述LTEASIC，以及接收所述LTE?ASIC對所述第二測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后發(fā)送的第一反饋數(shù)據(jù)，對所述第一反饋數(shù)據(jù)進(jìn)行速率轉(zhuǎn)換，獲得第二反饋數(shù)據(jù)，對所述第二反饋數(shù)據(jù)進(jìn)行打包得到USB反饋數(shù)據(jù)包，并發(fā)送給所述USB接口單元，其中，所述第二測試數(shù)據(jù)的速率是所述第一測試數(shù)據(jù)的速率的兩倍，所述第一反饋數(shù)據(jù)的速率是所述第二反饋數(shù)據(jù)的速率的兩倍。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元包括：轉(zhuǎn)儲單元、以及分別與所述轉(zhuǎn)儲單元連接的下行數(shù)據(jù)處理單元和上行數(shù)據(jù)處理單元，其中：
所述轉(zhuǎn)儲單元，用于對接收到的所述USB測試數(shù)據(jù)包進(jìn)行解析，并將解析生成的第一測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述下行數(shù)據(jù)處理單元，以及，接收所述上行數(shù)據(jù)處理單元發(fā)送的第二反饋數(shù)據(jù)，并打包成USB反饋數(shù)據(jù)包后發(fā)送給所述USB接口單元；其中，所述第一測試數(shù)據(jù)包括：兩路單倍速率測試數(shù)據(jù)信號和下行幀使能信號，所述第二反饋數(shù)據(jù)包括：兩路單倍速率反饋數(shù)據(jù)信號和上行幀使能信號；
所述下行數(shù)據(jù)處理單元，用于在接收的所述第一測試數(shù)據(jù)中的下行幀使能信號的控制下，根據(jù)設(shè)定的下行時鐘信號的采樣頻率，對所述第一測試數(shù)據(jù)中的兩路單倍速率測試數(shù)據(jù)信號進(jìn)行輪循采樣，得到一路雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號，將包括所述下行幀使能信號、所述下行時鐘信號和所述雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號的第二測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述LTE?ASIC；
所述上行數(shù)據(jù)處理單元，用于接收所述LTE?ASIC對所述第二測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后發(fā)送的第一反饋數(shù)據(jù)，根據(jù)所述第一反饋數(shù)據(jù)中的雙倍速率上行數(shù)據(jù)信號的有效數(shù)據(jù)的有無生成上行幀使能信號，根據(jù)所述第一反饋數(shù)據(jù)中的上行時鐘信號的采樣頻率，從所述第一反饋數(shù)據(jù)中的雙倍速率上行數(shù)據(jù)信號中分離出兩路單倍速率反饋數(shù)據(jù)信號，將包括所述兩路單倍速率反饋數(shù)據(jù)信號和所述上行幀使能信號的第二反饋數(shù)據(jù)發(fā)送給所述轉(zhuǎn)儲單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述下行數(shù)據(jù)處理單元包括：雙倍數(shù)據(jù)速率輸出ODDR子單元和模數(shù)轉(zhuǎn)換接口子單元，其中：
所述ODDR子單元，用于接收所述轉(zhuǎn)儲單元發(fā)送的包括下行I數(shù)據(jù)信號、下行Q數(shù)據(jù)信號和下行幀使能信號的第一測試數(shù)據(jù)，在所述下行幀使能信號有效期間，根據(jù)設(shè)定的下行時鐘信號的采樣頻率，對下行I數(shù)據(jù)信號和下行Q數(shù)據(jù)進(jìn)行輪循采樣，得到一路雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號，將包括所述下行幀使能信號、所述下行時鐘信號和所述雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號的第二測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述模數(shù)轉(zhuǎn)換接口子單元，其中，所述下行I數(shù)據(jù)信號和下行Q數(shù)據(jù)信號分別為單倍速率測試數(shù)據(jù)信號；
所述模數(shù)轉(zhuǎn)換接口子單元與所述LTE?ASIC的信號接收接口匹配，用于將接收的所述第二測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述LTE?ASIC。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，
所述ODDR子單元，用于在下行幀使能信號有效期間，在所述下行時鐘信號的每個上升沿對下行I數(shù)據(jù)信號進(jìn)行采樣，在所述下行時鐘信號的每個下降沿對下行Q數(shù)據(jù)信號進(jìn)行采樣，得到一路雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號；
或者，
所述ODDR子單元，用于在下行幀使能信號有效期間，在所述下行時鐘信號的每個下降沿對下行I數(shù)據(jù)信號進(jìn)行采樣，在所述下行時鐘信號的每個上升沿對下行Q數(shù)據(jù)信號進(jìn)行采樣，得到一路雙倍速率下行數(shù)據(jù)信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，
所述ODDR子單元，進(jìn)一步用于將所述下行時鐘信號位移指定角度，將位移指定角度后的下行時鐘信號包含在所述第二測試數(shù)據(jù)中通過所述模數(shù)轉(zhuǎn)換接口子單元發(fā)送給所述LTE?ASIC。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京創(chuàng)毅訊聯(lián)科技股份有限公司，未經(jīng)北京創(chuàng)毅訊聯(lián)科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210433719.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
