[發明專利]一種功率器件的制作方法無效
| 申請號: | 201210430641.1 | 申請日: | 2012-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN102969249A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發明(設計)人: | 李澤宏;楊文韜;單亞東;顧鴻鳴;張金平;任敏 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L21/331 |
| 代理公司: | 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李順德;王睿 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 功率 器件 制作方法 | ||
1.一種功率器件的制作方法,包括以下步驟:1)硅片去除自然氧化層;2)在硅片表面熱生長一層墊氧緩沖層;3)沉積氧化阻擋層;4)光刻氧化阻擋層;5)氧化生長場氧化層;6)去除氧化阻擋層;7)場限環注入并退火;8)有源區刻蝕并注入;9)熱氧化生長柵氧化層;10)沉積多晶硅柵;11)光刻多晶硅柵;12)基區注入并退火;13)源區注入并退火;14)沉積介質層;15)刻蝕接觸孔;16)體區注入并退火;17)沉積正面金屬;18)刻蝕正面金屬;19)沉積鈍化層;20)刻蝕PAD孔;21)背面工藝。
2.根據權利要求1所述的功率器件的制作方法,其特征是,步驟2制作的墊氧緩沖層為二氧化硅層或二氧化硅與多晶硅的組合層。
3.根據權利要求1所述的功率器件的制作方法,其特征是,步驟3中氧化阻擋層為氮化硅層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





