[發(fā)明專利]LED老化測試系統及其測試方法

有效

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• 申請日: 2012-10-31
• 公開（公告）號: CN102928760A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設計）人: 黃永賢
• 申請（專利權）人: 許偉清
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 楊林;馬翠平

技術領域

本發(fā)明涉及LED光電測試技術領域，更具體地講，涉及一種LED老化測試系統及其測試方法。

背景技術

LED具有功率小且壽命長，尤其在節(jié)能方面特別突出。適逢當前能源緊張，LED的發(fā)展得到國家的大力支持，在這幾年發(fā)展得特別快。LED在照明方面應用非常廣泛，其中涉及到商業(yè)、家庭、汽車照明等領域。

通常在理論上，LED的使用壽命可以達到10萬小時，過去幾年，我們接觸到的LED產品，壽命都很短，包括路燈、臺燈、光管等，很多LED燈在點亮很短的時間后就出現亮度變暗、亮度不均勻、顏色變化、甚至不發(fā)光的現象。這有多方面的原因，比如控制線路、散熱設計等都會引起上述現象的發(fā)生，但有一個主要的原因就是LED本身的問題，同時這也是制約了LED行業(yè)的發(fā)展。

目前，針對LED燈本身存在的問題，業(yè)界通常采用在LED上產線前，對其進行老化測試，其方法為把點亮的LED放在烤箱或冰箱里，以正向恒定電流方式或正向脈沖電流方式去點亮LED一段時間，然后把LED從烤箱或冰箱的老化環(huán)境溫度里取出，再到常溫條件下的測試儀器上去測LED的參數。這些測試參數包括正向壓降值、反向漏電值、亮度值與顏色等參數。測試完后把參數不合格的LED燈挑出來，但經過這種測試挑選出的LED在正式做成燈飾成品后，LED還是會出現前述的不良現象。原因為目前老化與測試LED是分開進行的，忽略了LED本身有特定的溫度特性；在不同的溫度下，其正向壓降值和反向漏電值是不同的，目前這種老化方式及測試方式沒有全面考慮到LED的溫度特性與LED正向壓降和反向漏電的測試方法，并且在老化過程中數次要把燈取出，測量參數，再放回去繼續(xù)老化，效率不高。

因此，需要一種LED老化測試系統及其測試方法，采用新的老化方式及測試方式以解決上述現有技術所存在的問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種LED老化測試系統，在老化的過程中在線測試多顆LED的參數，其次能夠對多顆LED批量地以一預設沖擊頻率進行多次反向沖擊老化來測試多顆LED的反向漏電值，更加準確地挑出有漏電隱患或漏電值不穩(wěn)定的LED，最后能夠對多顆LED以一設定的交替頻率進行正反向沖擊交替老化，功能更全面，效率更高。

為了實現上述目的，本發(fā)明提供了一種LED老化測試系統，該測試系統包括：

可視化人機交互模塊，用于選擇一測試模式并輸入與其對應的測試參數，顯示所述測試模式和/或所述測試參數；

微處理器模塊，用于接收所述測試模式及對應的測試參數，計算所述測試參數得到計算結果并將其輸出；

被測試模塊，用于接收所述計算結果并實現與所述測試模式相對應的被測試模式，得到被測試參數并將其輸出；

測試模塊，用于接受所述微處理器模塊的控制并根據接收到的所述被測試參數測試所述被測試模塊得到模擬測試結果，所述模擬測試結果經由所述微處理器模塊讀取并處理為數字測試結果，所述數字測試結果輸出到所述可視化人機交互模塊并由其顯示。

進一步地，所述測試系統還包括溫度控制模塊，用于設定溫度控制模式對所述被測試模塊進行溫度控制，其中，所述溫度控制模式選擇為常溫、低溫、高溫或高低溫循環(huán)模式之一。

進一步地，所述被測試模塊包括多路可控恒流源、多路可控電壓源、多路可控開關和多路LED老化測試座；所述微處理器模塊輸出所述計算結果到多路可控恒流源和多路可控電壓源，并控制多路可控恒流源的使能端或多路可控電壓源的使能端、多路可控開關以一設定的交替頻率對多路LED老化測試座進行正向電流、反向電壓交替老化，且使多路LED老化測試座實現與所述測試模式相對應的被測試模式。