[發明專利]LED老化測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 201210428801.9
• 申請日: 2012-10-31
• 公開（公告）號: CN102928760A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 黃永賢
• 申請（專利權）人: 許偉清
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 楊林;馬翠平

1.一種LED老化測試系統，其特征在于，包括：

可視化人機交互模塊，用于選擇一測試模式并輸入與其對應的測試參數，顯示所述測試模式和/或所述測試參數；

微處理器模塊，用于接收所述測試模式及對應的測試參數，計算所述測試參數得到計算結果并將其輸出；

被測試模塊，用于接收所述計算結果并實現與所述測試模式相對應的被測試模式，得到被測試參數并將其輸出；

測試模塊，用于接受所述微處理器模塊的控制并根據接收到的所述被測試參數測試所述被測試模塊得到模擬測試結果，所述模擬測試結果經由所述微處理器模塊讀取并處理為數字測試結果，所述數字測試結果輸出到所述可視化人機交互模塊并由其顯示。

2.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括溫度控制模塊，用于設定溫度控制模式對所述被測試模塊進行溫度控制，其中，所述溫度控制模式選擇為常溫、低溫、高溫或高低溫循環模式之一。

3.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述被測試模塊包括多路可控恒流源、多路可控電壓源、多路可控開關和多路LED老化測試座；所述微處理器模塊輸出所述計算結果到多路可控恒流源和多路可控電壓源，并控制多路可控恒流源的使能端或多路可控電壓源的使能端、多路可控開關以一設定的交替頻率對多路LED老化測試座進行正向電流、反向電壓交替老化，且使多路LED老化測試座實現與所述測試模式相對應的被測試模式。

4.根據權利要求3所述的測試系統，其特征在于，所述可控電壓源由第一運算放大器和第一電阻組成，所述可控恒流源由第二運算放大器、第二電阻、第三電阻和三極管組成，所述可控開關是由開關電源、PMOS管、NMOS管、第四電阻和第五電阻組成的電子開關，其中，第一電阻的一端連接于第一運算放大器的輸出端，另一端連接第一運算放大器的負極并連接與所述LED老化測試座的負端，第一運算放大器的正極用于接收一給定的反向電壓值；第二電阻連接于第二運算放大器的輸出端和三極管基極之間，第二運算放大器的負極連接三極管的發射極并連接于第三電阻的一端，第三電阻的另一端電性接地，第二運算放大器的正極用于接收一給定的正向電流值，三極管的集電極連接于LED老化測試座的負端；所述開關電源的輸出端連接PMOS管的源極，PMOS管的漏極連接NMOS管的漏極并連接于所述LED老化測試座的正端，NMOS管的源極電性接地，第四電阻連接于PMOS管的源極和柵極之間，第五電阻連接于NMOS管的源極和柵極之間，PMOS管的柵極和NMOS管的柵極分別連接于所述微處理器模塊。

5.根據權利要求3或4所述的測試系統，其特征在于，所述可控恒流源和可控電壓源相互獨立或協同工作。

6.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述測試模塊包括多路LED電流信號矩陣切換電路、多路LED電壓信號矩陣切換電路、多路LED漏電流處理電路和多路LED正向電壓處理電路；所述多路LED電流信號矩陣切換電路、所述多路LED電壓信號矩陣切換電路由模擬開關芯片CD4051、CD4052分別組成，所述微處理器模塊控制所述多路LED電流信號矩陣切換電路和多路LED電壓信號矩陣切換電路實現所述模擬開關芯片CD4051和CD4052的信號組合，從而將所述被測試參數輸入到多路LED漏電流處理電路或多路LED正向電壓處理電路處理成0~3.3伏電壓的所述模擬測試結果并將其輸出。

7.根據權利要求1或6所述的測試系統，其特征在于，所述微處理器模塊的內部集成設有模數轉換器，所述模數轉換器將所述模擬測試結果的模擬信號轉換為所述數字測試結果的數字信號。

8.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述可視化人機交互模塊由LCD屏、觸摸屏、模式選擇開關和RGB開關組成；所述模式選擇開關選擇恒流老化模式、正向沖擊老化模式、正反向沖擊老化模式、正向壓降檢測模式和反向漏電檢測模式中的任一測試模式；所述觸摸屏設置所述測試模式的測試參數，所述LCD屏顯示所述測試模式和/或所述測試參數和/或所述數字測試結果；所述RGB開關設置為紅色LED工作、綠色LED工作、藍色LED工作、紅綠色LED工作、紅藍色LED工作、綠藍色LED工作和紅綠藍色LED工作中的任一工作方式。