[發明專利]一種陣列基板檢測方法、檢測裝置及檢測系統無效
| 申請號： | 201210418843.4 | 申請日： | 2012-10-26 |
| 公開（公告）號： | CN102955097A | 公開（公告）日： | 2013-03-06 |
| 發明（設計）人： | 孫亮;郭縂傑;郭會斌;丁向前 | 申請（專利權）人： | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02;G01B7/00 |
| 代理公司： | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人： | 李娟 |
| 地址： | 100015 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 陣列 檢測 方法 裝置 系統 | ||
1.一種陣列基板檢測方法，其特征在于，包括：
獲取發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置，以及發生短路的兩條金屬配線之間的電壓值；
根據所述電壓值與從金屬配線一端到短路點的長度的對應關系，確定在金屬配線上短路發生的坐標位置。
2.如權利要求1所述的陣列基板檢測方法，其特征在于，所述電壓值與從金屬配線一端到短路點的長度的對應關系具體為：
V1=V*L1/L
其中，V1為發生短路的兩條金屬配線之間的電壓值，V為電源輸出的電壓值，L1為從金屬配線一端到短路點的長度，L為金屬配線的總長。
3.如權利要求1所述的陣列基板檢測方法，其特征在于，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置具體通過依次測量相鄰兩條金屬配線之間的電阻值獲得，當所述相鄰兩條金屬配線之間的電阻值小于設定閾值時，確定所述相鄰兩條金屬配線之間發生短路，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置隨之確定。
4.如權利要求1所述的陣列基板檢測方法，其特征在于，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置具體通過依次測量相鄰兩條金屬配線之間的電壓值獲得，當所述相鄰兩條金屬配線之間的電壓值大于零時，確定所述相鄰兩條金屬配線之間發生短路，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置隨之確定。
5.一種陣列基板檢測裝置，其特征在于，包括：
獲取設備，用于獲取發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置，以及發生短路的兩條金屬配線之間的電壓值；
控制設備，用于根據所述電壓值與從金屬配線一端到短路點的長度的對應關系，確定在金屬配線上短路發生的坐標位置。
6.如權利要求5所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述獲取設備用于依次獲取相鄰兩條金屬配線之間的電阻值，當所述相鄰兩條金屬配線之間的電阻值小于設定閾值時，確定所述相鄰兩條金屬配線之間發生短路，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置隨之確定。
7.如權利要求5所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述獲取設備用于依次獲取相鄰兩條金屬配線之間的電壓值，當所述相鄰兩條金屬配線之間有電壓值大于零時，確定所述相鄰兩條金屬配線之間發生短路，所述發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置隨之確定。
8.一種陣列基板檢測系統，其特征在于，包括：
短路測量裝置，用于確定發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置；
電壓測量裝置，用于測量發生短路的兩條金屬配線之間的電壓值；
控制裝置，分別與所述短路測量裝置和電壓測量裝置信號連接，用于根據發生短路的兩條金屬配線在陣列基板上的排列位置，以及所述電壓值與從金屬配線一端到短路點的長度的對應關系，確定在金屬配線上短路發生的坐標位置。
9.如權利要求8所述的陣列基板檢測系統，其特征在于，所述短路測量裝置為電阻測量裝置，包括：兩個測量探針，以及與所述兩個測量探針信號連接的電阻測量儀。
10.如權利要求8所述的陣列基板檢測系統，其特征在于，所述短路測量裝置為電壓測量裝置，包括：兩個測量探針，與所述兩個測量探針信號連接的電壓測量儀。
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