[發(fā)明專利]一種電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210409580.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-10-24 | 
| 公開(公告)號(hào): | CN102928779A | 公開(公告)日: | 2013-02-13 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李軍;王友明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 貴州航天林泉電機(jī)有限公司 | 
| 主分類號(hào): | G01R31/34 | 分類號(hào): | G01R31/34;G01M99/00 | 
| 代理公司: | 貴陽中新專利商標(biāo)事務(wù)所 52100 | 代理人: | 劉楠 | 
| 地址: | 550003 *** | 國(guó)省代碼: | 貴州;52 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電機(jī) 機(jī)械性能 測(cè)試 方法 裝置 | ||
1.?一種電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試方法,其特在在于:將被測(cè)電機(jī)(1)的轉(zhuǎn)軸通過機(jī)械連接的方式與作為發(fā)電機(jī)用的負(fù)載電機(jī)(2)的轉(zhuǎn)軸連接,將負(fù)載電機(jī)的電輸出端作為電源連接到一個(gè)裝有負(fù)載電阻的負(fù)載試驗(yàn)箱的箱體(4)上的電源連接端上,使負(fù)載試驗(yàn)箱中的負(fù)載電阻作為負(fù)載電機(jī)的負(fù)載,然后對(duì)被測(cè)電機(jī)(1)通電,使被測(cè)電機(jī)(1)轉(zhuǎn)動(dòng)并帶動(dòng)負(fù)載電機(jī)(2)運(yùn)轉(zhuǎn)發(fā)電,然后通過調(diào)節(jié)負(fù)載電阻的方式使負(fù)載電機(jī)(2)的負(fù)載功率在一個(gè)測(cè)試周期中進(jìn)行改變,這樣即可通過改變負(fù)載功率的方式改變作用在被測(cè)電機(jī)(1)轉(zhuǎn)軸上的力矩,同時(shí)在測(cè)試過程中通過轉(zhuǎn)速表(3)觀察被測(cè)電機(jī)(1)的轉(zhuǎn)速變化情況,根據(jù)其轉(zhuǎn)速變化情況即可達(dá)到測(cè)試被測(cè)電機(jī)(1)機(jī)械性能的目的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試方法,其特征在于:在一個(gè)測(cè)試周期中使負(fù)載功率進(jìn)行改變時(shí),通過調(diào)節(jié)負(fù)載電阻的方式使負(fù)載電機(jī)(2)的負(fù)載功率在一個(gè)測(cè)試周期中由開始的1千瓦增加到1.5千瓦后再增加到2.5千瓦,并且使一個(gè)測(cè)試周期的時(shí)間為120秒,在120秒的一個(gè)測(cè)試周期中,其負(fù)載功率為1千瓦的時(shí)間為100秒、為1.5千瓦的時(shí)間為18秒、為2.5千瓦的時(shí)間為2秒。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試方法,其特征在于:每個(gè)被測(cè)電機(jī)(1)的測(cè)試時(shí)間為3~8個(gè)測(cè)試周期。
4.一種電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試裝置,包括負(fù)載試驗(yàn)箱箱體(4),其特征在于:在箱體(4)中裝有電路板,在電路板上安裝有整流電路(5)和負(fù)載電路,負(fù)載電路由3個(gè)負(fù)載電阻即第一負(fù)載電阻(R1)、第二負(fù)載電阻(R2)和第三負(fù)載電阻(R3)組成,第一負(fù)載電阻(R1)、第二負(fù)載電阻(R2)和第三負(fù)載電阻(R3)的一端與整流電路(5)的直流電輸出端的一端連接,第一負(fù)載電阻(R1)、第二負(fù)載電阻(R2)和第三負(fù)載電阻(R3)的另一端分別串聯(lián)一個(gè)開關(guān)電路(6)后接整流電路(5)的直流電輸出端的另一端。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電機(jī)機(jī)械性能的測(cè)試裝置,其特征在于:開關(guān)電路(6)由場(chǎng)效應(yīng)晶體管(K)、脈沖寬度調(diào)制電路(PWM)和時(shí)間控制電路(TC)組成,時(shí)間控制電路(TC)的控制信號(hào)輸出端接脈沖寬度調(diào)制電路(PWM)的信號(hào)輸入端,脈沖寬度調(diào)制電路(PWM)的控制信號(hào)輸出端接場(chǎng)效應(yīng)晶體管(K)的柵極,場(chǎng)效應(yīng)晶體管(K)的源極通過負(fù)載電阻接整流電路(5)的直流電輸出端的一端,場(chǎng)效應(yīng)晶體管(K)的漏極接整流電路(5)的直流電輸出端的另一端。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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