[發(fā)明專利]觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210392444.5
• 申請(qǐng)日: 2012-10-16
• 公開（公告）號(hào): CN103176671A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 董睿昕;林義哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 達(dá)鴻先進(jìn)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/044
• 分類號(hào): G06F3/044;G06F3/0484
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法，特別是一種可計(jì)算校正點(diǎn)位的觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法。

背景技術(shù)

目前移動(dòng)電子裝置的主流，例如智能手機(jī)或平板計(jì)算機(jī)等，均舍棄傳統(tǒng)的鍵盤鼠標(biāo)裝置而改以觸控面板作為標(biāo)準(zhǔn)的輸入和輸出的接口，以因應(yīng)電子裝置的微小化趨勢。通過觸控面板，移動(dòng)電子裝置提供使用者借由手指在觸控面板上的觸碰或滑動(dòng)來執(zhí)行觸控操作。

而隨著觸控及硬件技術(shù)的日新月異，觸控操作也愈來愈人性化，許多觸控操作方式也愈來愈細(xì)膩，因此對(duì)于觸控軌跡的分辨率要求也愈來愈高，否則便容易發(fā)生誤判或者是描繪出的觸控軌跡不如預(yù)期。

由于一般人在觸控面板上操控執(zhí)行時(shí)，往往會(huì)因重心偏移或接觸面積變異，造成觸碰點(diǎn)位變異使得執(zhí)行軌跡呈現(xiàn)非平滑狀況，因此一般均不會(huì)直接使用觸控面板所檢測到的觸碰點(diǎn)位，而是會(huì)進(jìn)一步對(duì)觸碰點(diǎn)位進(jìn)行線性化處理。目前觸控行業(yè)人員對(duì)于觸控軌跡的修正多利用內(nèi)插法來平滑化使用者在觸控面板上所畫出的軌跡。

請(qǐng)參照?qǐng)D1與圖2，分別為現(xiàn)有技術(shù)示意圖（一）、（二）。當(dāng)手指在觸控電子裝置10的觸控面板101上滑動(dòng)時(shí)，觸控面板101會(huì)檢測到觸碰點(diǎn)位250（包含A1~A12），此時(shí)，觸控電子裝置10的處理器會(huì)對(duì)觸碰點(diǎn)位250進(jìn)行線性化處理而得到模擬點(diǎn)位260（A1’~A12’）。其中，A1’即為A1；A2’由A1’與A2內(nèi)插計(jì)算而得；A3’由A2’與A3內(nèi)插計(jì)算而得；A4’由A3’與A4內(nèi)插計(jì)算而得；依此類推。

但線性化處理卻也造成時(shí)間遲滯的問題，也即手指完成操作而離開觸控面板101當(dāng)下所在的觸碰點(diǎn)位A12會(huì)與線性化處理最后所計(jì)算出的模擬點(diǎn)位產(chǎn)生落差。一種現(xiàn)有計(jì)算模擬點(diǎn)位260的方式，當(dāng)觸碰物一離開觸控面板便立即停止計(jì)算，此時(shí)，模擬點(diǎn)位可能僅計(jì)算至A4’便嘎然停止，導(dǎo)致模擬點(diǎn)位260所構(gòu)成的軌跡與真實(shí)的觸碰軌跡不符合或差異過大。尤其當(dāng)手指移動(dòng)速度愈快時(shí)，差異將會(huì)愈明顯。此種差異極可能造成觸控操作的誤判或是令描繪出的觸控軌跡不如預(yù)期。

現(xiàn)有技術(shù)另一種作法為先將觸碰點(diǎn)位250存放于緩存器中，處理器再從緩存器中獲取觸碰點(diǎn)位250進(jìn)行處理，如此一來雖然可對(duì)所有觸碰點(diǎn)位250進(jìn)行計(jì)算而得到模擬點(diǎn)位250，但會(huì)造成觸控操作的反應(yīng)時(shí)間變長而使觸控操作產(chǎn)生時(shí)間延遲。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種觸控電子裝置，包含觸控面板、處理器與校正模塊。其中，處理器每隔一間隔時(shí)間檢測至少一觸碰點(diǎn)位，處理器再根據(jù)檢測到的觸碰點(diǎn)位計(jì)算模擬點(diǎn)位。當(dāng)處理器檢測到觸碰點(diǎn)離開觸控面板時(shí)，校正模塊根據(jù)觸控面板檢測到的觸碰點(diǎn)離開觸控面板時(shí)的觸碰點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₁,Y₁）以及處理器所最后計(jì)算出的模擬點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₂,Y₂）計(jì)算多個(gè)校正點(diǎn)位，用以校正模擬點(diǎn)位與觸碰點(diǎn)位之間的誤差，觸控電子裝置借由模擬點(diǎn)位與校正點(diǎn)位執(zhí)行觸控操作。

本發(fā)明也提供一種觸控軌跡的校正方法，適用于具有觸控面板、處理器與校正模塊的觸控電子裝置。所述觸控軌跡的校正方法包含：處理器每隔一間隔時(shí)間檢測至少一觸碰點(diǎn)位，處理器再根據(jù)檢測到的觸碰點(diǎn)位計(jì)算模擬點(diǎn)位；當(dāng)處理器檢測到觸碰物離開觸控面板時(shí)，校正模塊根據(jù)處理器所檢測到的觸碰點(diǎn)離開觸控面板時(shí)的觸碰點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₁,Y₁）以及處理器所最后計(jì)算出的模擬點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₂,Y₂）計(jì)算多個(gè)校正點(diǎn)位，用以校正模擬點(diǎn)位與觸碰點(diǎn)位之間的誤差。其中，觸控電子裝置借由模擬點(diǎn)位與校正點(diǎn)位執(zhí)行觸控操作。

綜上所述，本發(fā)明不需要借助緩存器，僅需根據(jù)處理器所檢測到的觸碰點(diǎn)離開觸控面板時(shí)的觸碰點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₁,Y₁）以及處理器所最后計(jì)算出的模擬點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₂,Y₂）計(jì)算出多個(gè)校正點(diǎn)位，便使觸控電子裝置得以借由模擬點(diǎn)位與校正點(diǎn)位來執(zhí)行觸控操作，解決了現(xiàn)有技術(shù)所具有的種種問題。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的現(xiàn)有技術(shù)示意圖（一）；

圖2為本發(fā)明的現(xiàn)有技術(shù)示意圖（二）；

圖3為本發(fā)明的觸控電子裝置示意圖；

圖4為本發(fā)明的觸碰點(diǎn)位及模擬點(diǎn)位示意圖；

圖5為本發(fā)明的觸控軌跡的校正方法流程圖。

附圖標(biāo)記

10：觸控電子裝置????????101：觸控面板