[發(fā)明專利]觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210392444.5
• 申請(qǐng)日: 2012-10-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103176671A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 董睿昕;林義哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 達(dá)鴻先進(jìn)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/044
• 分類號(hào): G06F3/044;G06F3/0484
• 代理公司: 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國(guó)

1.一種觸控軌跡的校正方法，其特征在于，適用于具有一觸控面板、一處理器與一校正模塊的一觸控電子裝置，包含：

該處理器每隔一間隔時(shí)間檢測(cè)至少一觸碰點(diǎn)位；

該處理器根據(jù)該觸碰點(diǎn)位計(jì)算一模擬點(diǎn)位；及

當(dāng)處理器檢測(cè)到觸碰點(diǎn)離開(kāi)該觸控面板時(shí)，該校正模塊根據(jù)該處理器所檢測(cè)到的觸碰點(diǎn)離開(kāi)觸控面板時(shí)的該觸碰點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₁,Y₁）以及該處理器所最后計(jì)算出的該模擬點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₂,Y₂）計(jì)算多個(gè)校正點(diǎn)位，用以校正該模擬點(diǎn)位與該觸碰點(diǎn)位之間的誤差；

其中，該觸控電子裝置根據(jù)該模擬點(diǎn)位與該校正點(diǎn)位執(zhí)行觸控操作。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控軌跡的校正方法，其特征在于，于計(jì)算該些校正點(diǎn)位的步驟中，計(jì)算三個(gè)校正點(diǎn)位。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控軌跡的校正方法，其特征在于，該三個(gè)校正點(diǎn)位的坐標(biāo)分別為及（X₁,Y₁）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控軌跡的校正方法，其特征在于，于計(jì)算該些校正點(diǎn)位的步驟中，計(jì)算n個(gè)校正點(diǎn)位，該n個(gè)校正點(diǎn)位的坐標(biāo)公式為其中a的值為1至n。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控軌跡的校正方法，其特征在于，n的值在3至6的范圍中。

6.一種觸控電子裝置，其特征在于，包含：

一觸控面板；

一處理器，電性連接于該觸控面板，每隔一間隔時(shí)間檢測(cè)至少一觸碰點(diǎn)位，且根據(jù)該觸碰點(diǎn)位計(jì)算一模擬點(diǎn)位；及

一校正模塊，電性連接于該處理器，當(dāng)該處理器檢測(cè)到觸碰點(diǎn)離開(kāi)該觸控面板時(shí)，根據(jù)該處理器所檢測(cè)到的觸碰點(diǎn)離開(kāi)該觸控面板時(shí)的該觸碰點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₁,Y₁）以及該處理器所最后計(jì)算出的該模擬點(diǎn)位的坐標(biāo)（X₂,X₂）計(jì)算n個(gè)校正點(diǎn)位，用以校正該模擬點(diǎn)位與該觸碰點(diǎn)位之間的誤差，該n個(gè)校正點(diǎn)位的坐標(biāo)公式為其中a的值為1至n。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的觸控電子裝置，其特征在于，該校正模塊計(jì)算三個(gè)校正點(diǎn)位。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控電子裝置，其特征在于，該三個(gè)校正點(diǎn)位的坐標(biāo)分別為及（X₁,Y₁）。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的觸控電子裝置，其特征在于，n的值在3至6的范圍中。