[發明專利]具改良式壓鉗的測試座及使用該測試座的動態測試設備

有效

• 申請號: 201210389637.5
• 申請日: 2012-10-15
• 公開（公告）號: CN103727971B
• 公開（公告）日: 2016-04-27
• 發明（設計）人: 劉光祥;林威成
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

技術領域

本發明涉及一種具改良式壓鉗的測試座及使用該測試座的動態測試 設備，特別是一種適用于測試動態傳感器的測試座及動態測試設備。

背景技術

近幾年來，隨著微機電系統的日新月異，各種小型化、高性能且成本 低廉的傳感器紛紛問世，使得傳感器由關鍵元件進一步提升成為產生創新 價值的主要元件，例如：蘋果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii 所使用的三軸加速度傳感器，大部分采用微機電系統技術運用在傳感器上， 加速度傳感器的運作原理為感應出加速度方向的XYZ三軸成分，從而得 出物體在三度空間中的運動向量。

另外，由于為了使各感應元件或待測傳感器更微小化，以及為了后續 組裝方便，在待測傳感器表面常會配置有許多連接腳位或是電路圖案，在 進行測試時，因需固定壓制感應元件或待測傳感器，若壓于各連接腳位或 電路圖案上，十分容易造成元件毀損。

有鑒于此，有必要設計一種避免破壞待測傳感器表面電路圖案、且可 大規模測試動態傳感器的運動訊號的設備，以提高測試的良率、產能及降 低測試成本。

發明內容

本發明一種具改良式壓鉗的測試座包括：一基座、一測試埠、一導引 座、一長壓鉗、一短壓鉗、以及二按壓件。基座開設有一容置槽，測試埠 設置于基座的容置槽內；導引座開設有一測試槽，置于基座的容置槽內， 并位于測試埠上方，導引座與測試埠間夾設有多個第一彈性元件；長壓鉗 設置于基座的一側，一端具有一壓頭，且壓頭開設有至少一凹槽及具有一 圖樣的截面部；短壓鉗則設置于基座上的長壓鉗的相對側；二按壓件樞設 于基座上相對的二側，并分別覆蓋于長壓鉗及短壓鉗的一端，在二按壓件 與基座間可夾設有多個第二彈性元件。

當按壓按壓件時，可使置于按壓件底下的長壓鉗及短壓鉗向上打開， 即可置入待測傳感器，接著停止按壓按壓件，此時按壓件會因多個第二彈 性元件的彈力，回彈至初始位置，使得長壓鉗可抵壓于待測傳感器上，并 施予待測傳感器一微壓應力，讓待測傳感器可與測試埠相接觸，以進行測 試。

而在長壓鉗的壓頭上所開設的凹槽及具有圖樣的截面部，是為了能在 提供測試所需壓力的同時，亦可避免破壞待測傳感器表面電路圖案，以提 高測試的良率、產能及降低測試成本。優選的是，上述壓頭的截面部所具 有的圖樣可為多邊形、十字形、蝴蝶結形、圓形、橢圓形等或是其組合， 且截面部可為對稱或非對稱的幾何形狀。壓頭的凹槽則可為圓形、橢圓形、 多邊形等或是其組合，且亦可為對稱或非對稱的幾何形狀。壓頭上的截面 部與凹槽形式可任意組合搭配，主要是配合待測傳感器表面電路圖案做調 整。

當壓頭抵壓至待測傳感器上時，上述至少一凹槽可對應至待測傳感器 的電路圖案，而壓頭的截面部可對應接觸待測傳感器的非電路圖案，以避 開待測傳感器表面電路圖案，又能鉗扣待測傳感器于座體內，以避免于翻 轉過程或直線往復動作過程中，造成待測傳感器掉落，同時亦能施予待測 傳感器足夠的壓力，以進行測試。

上述壓頭的截面部的尺寸可與待測傳感器的尺寸相同，以使壓頭能確 切按壓待測傳感器；另外，亦可于壓頭的截面部設置一彈性層，用以抵觸 待測傳感器。

本發明一種使用上述具改良式壓鉗測試座的動態測試設備，包括一分 料裝置、一動態測試裝置、一機臺、多個測試座、及一主控制器。其中， 分料裝置選擇式地移動于至少一待測傳感器承載盤與多個測試座之間。亦 即，分料裝置主要用于將待測傳感器從待測傳感器承載盤中取出置于多個 測試座內，于檢測完畢后再將待測傳感器從多個測試座中取出并置于待測 傳感器承載盤內。機臺置于分料裝置下方，且在機臺上承載有動態測試裝 置。