[發明專利]具改良式壓鉗的測試座及使用該測試座的動態測試設備

有效

• 申請號: 201210389637.5
• 申請日: 2012-10-15
• 公開（公告）號: CN103727971B
• 公開（公告）日: 2016-04-27
• 發明（設計）人: 劉光祥;林威成
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種具改良式壓鉗的測試座，包括：

一基座，開設有一容置槽；

一測試埠，設置于該基座的該容置槽內；

一導引座，開設有一測試槽，置于該基座的該容置槽內，并位于該測 試埠上方，該導引座與該測試埠間夾設有多個第一彈性元件；

一長壓鉗，設置于該基座的一側，一端具有一壓頭，且該壓頭開設有 至少一凹槽及具有一圖樣的截面部；

一短壓鉗，設置于該基座上的該長壓鉗的相對側；以及

二按壓件，樞設于該基座上相對的二側，并分別覆蓋于該長壓鉗及該 短壓鉗的一端，該二按壓件與該基座間夾設有多個第二彈性元件。

2.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的截面部為多邊形、 十字形、蝴蝶結形、圓形、或其組合。

3.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的至少一凹槽為多邊 形、圓形、或其組合。

4.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的截面部為對稱或非 對稱的幾何形狀。

5.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的至少一凹槽為對稱 或非對稱的幾何形狀。

6.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的至少一凹槽對應一 待測傳感器的電路圖案。

7.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的截面部對應接觸一 待測傳感器的非電路圖案。

8.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的截面部的尺寸與一 待測傳感器的尺寸相同。

9.如權利要求1所述的測試座，其中，該壓頭的截面部設置一彈性 層，用以抵觸一待測傳感器。

10.一種使用具改良式壓鉗測試座的動態測試設備，包括：

一分料裝置；

一動態測試裝置；

一機臺，置于該分料裝置下方，該機臺上承載有該動態測試裝置；

多個測試座，分別布設于該動態測試裝置中，每一測試座包括有開設 有一容置槽的一基座、一測試埠、開設有一測試槽的一導引座、一長壓鉗、 一短壓鉗、及二按壓件，該測試埠及該導引座依序設置于該容置槽內，且 該導引座與該測試埠間夾設有多個第一彈性元件，該長壓鉗及該短壓鉗分 別設置于該基座的相對側，且分別覆蓋有該二按壓件，該長壓鉗的一端具 有一壓頭，且該壓頭開設有至少一凹槽及具有一圖樣的截面部，該二按壓 件與該基座間夾設有多個第二彈性元件；以及

一主控制器，分別電性耦接該多個測試座及該分料裝置。

11.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該壓頭的截面部為 多邊形、十字形、蝴蝶結形、圓形、或其組合。

12.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該壓頭的該至少一 凹槽為多邊形、圓形、或其組合。

13.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該壓頭的截面部為 對稱或非對稱的幾何形狀。

14.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該壓頭的至少一凹 槽為對稱或非對稱的幾何形狀。

15.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該壓頭的該至少一 凹槽對應一待測傳感器的電路圖案。

16.如權利要求10所述的動態測試設備，其中﹐該壓頭的截面部對 應接觸一待測傳感器的非電路圖案。

17.如權利要求10所述的動態測試設備，其中，該動態測試裝置包 括有：具有一往復滑臺的一直線往復裝置、一固定座、一翻轉架、及一承 載臺，該固定座設置于該往復滑臺上，該翻轉架樞設于該固定座上并沿一 第一軸旋轉，該承載臺樞設于該翻轉架上并沿一第二軸旋轉，該第一軸、 及該第二軸彼此垂直正交。