[發(fā)明專(zhuān)利]在石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行中測(cè)量新加入被測(cè)件的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210388333.7
• 申請(qǐng)日: 2012-10-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102928692A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃河
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01R31/01
• 代理公司: 陜西電子工業(yè)專(zhuān)利中心 61205
• 代理人: 王品華

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，涉及在石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行中加入新被測(cè)件的方法，可用于石英晶體振蕩器的計(jì)量檢定、校準(zhǔn)、測(cè)量、測(cè)試、檢驗(yàn)和生產(chǎn)。

背景技術(shù)

石英晶體振蕩器按國(guó)家檢定規(guī)程所對(duì)應(yīng)的檢定對(duì)象分為兩大類(lèi)：普通晶振及高穩(wěn)晶振。普通晶振對(duì)應(yīng)的檢定規(guī)程為《JJG180-2002電子測(cè)量?jī)x器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測(cè)量的主要參數(shù)有：開(kāi)機(jī)特性、日頻率波動(dòng)、1秒頻率穩(wěn)定度、頻率復(fù)現(xiàn)性、頻率準(zhǔn)確度。測(cè)量時(shí)間最少為3天；高穩(wěn)晶振對(duì)應(yīng)的檢定規(guī)程為《JJG181-2005石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程》，測(cè)量的主要參數(shù)有：短期頻率穩(wěn)定度（1ms、10ms、100ms、1s、10s）、日老化率、頻率準(zhǔn)確度。測(cè)量時(shí)間最少為8天。

目前國(guó)內(nèi)的石英晶體振蕩器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要有兩類(lèi)。一類(lèi)是通過(guò)控制器及切換開(kāi)關(guān)將測(cè)試數(shù)據(jù)打印出來(lái)，再輸入到計(jì)算機(jī)的相應(yīng)程序中進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到測(cè)量結(jié)果。此類(lèi)系統(tǒng)不能做到數(shù)據(jù)的自動(dòng)處理、被測(cè)件的自動(dòng)加電及斷電。典型的設(shè)備是中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十研究所自行研制的“多路自動(dòng)控制器”；另一類(lèi)是通過(guò)計(jì)算機(jī)或其他高速處理器控制控制器及切換開(kāi)關(guān)獲得測(cè)試數(shù)據(jù)，將測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到測(cè)量結(jié)果。典型的設(shè)備是石家莊無(wú)線電四廠或西安宏泰時(shí)頻生產(chǎn)的“石英晶體振蕩器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)”。此類(lèi)系統(tǒng)需要被測(cè)件積攢到一定數(shù)量后再進(jìn)行測(cè)量，只能做到一批被測(cè)件測(cè)量完成后，再新加一批測(cè)量。這樣就造成如果測(cè)試通道有閑置，有新被測(cè)件送來(lái)而不能及時(shí)測(cè)量，只能等到前一批測(cè)量完成后再開(kāi)始測(cè)量新被測(cè)件，測(cè)量效率極低，不能做到被測(cè)件的隨到隨測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于針對(duì)上述已有技術(shù)的不足，提出一種在石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行中測(cè)量新加入被測(cè)件的方法，以提高測(cè)量效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明給出如下兩種技術(shù)方案：

技術(shù)方案1，在石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行中測(cè)量新加入普通晶振被測(cè)件的方法，包括如下步驟：

(1)將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測(cè)量的時(shí)間間隔均設(shè)置為1小時(shí)，石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)啟動(dòng)后，按每隔1小時(shí)的時(shí)間間隔測(cè)量原來(lái)已經(jīng)加入的被測(cè)件的相對(duì)平均頻率偏差，作為原始測(cè)量數(shù)據(jù)；

(2)在石英晶振自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行中加入新的普通晶振被測(cè)件：

(2a)在1小時(shí)時(shí)間間隔內(nèi)，當(dāng)有新的普通晶振被測(cè)件加入時(shí)，首先判斷原來(lái)已經(jīng)加入的被測(cè)件的相對(duì)平均頻率偏差測(cè)量是否完成，若沒(méi)有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的普通晶振被測(cè)件，提示內(nèi)容包括：送測(cè)單位、被測(cè)件名稱、被測(cè)件型號(hào)、被測(cè)件編號(hào)、被測(cè)件生產(chǎn)商、被測(cè)件的頻率標(biāo)稱值、被測(cè)件的測(cè)量依據(jù)、被測(cè)件預(yù)熱時(shí)間；

(2b)在下一個(gè)測(cè)量時(shí)刻到達(dá)后，先按順序測(cè)量原來(lái)已經(jīng)加入的被測(cè)件的相對(duì)平均頻率偏差，然后再按新的普通晶振被測(cè)件加入順序依次對(duì)其加電；

(3)依據(jù)《JJG180-2002電子測(cè)量?jī)x器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測(cè)量新的普通晶振被測(cè)件的性能：

(3a)新的普通晶振被測(cè)件在加電1小時(shí)后，將測(cè)量相對(duì)平均頻率偏差的取樣時(shí)間選為10s，每隔1小時(shí)測(cè)量1組，每組連續(xù)測(cè)得3個(gè)相對(duì)平均頻率偏差，取3個(gè)相對(duì)平均頻率偏差的平均值作為每組的測(cè)量結(jié)果，共測(cè)25組，得到25個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)；將測(cè)量數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計(jì)算出新的普通晶振被測(cè)件的開(kāi)機(jī)特性及日頻率波動(dòng)，并根據(jù)日頻率波動(dòng)測(cè)量結(jié)果給出新的普通晶振被測(cè)件的頻率準(zhǔn)確度，該頻率準(zhǔn)確度比日頻率波動(dòng)低一個(gè)數(shù)量級(jí)；

(3b)25個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)測(cè)量完成后，將新的普通晶振被測(cè)件斷電，同時(shí)取25個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)中的第25個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)作為第一次測(cè)量結(jié)果，再對(duì)新的普通晶振被測(cè)件持續(xù)斷電24小時(shí)；斷電24小時(shí)后，給新的普通晶振被測(cè)件再次加電，加電1小時(shí)后，將測(cè)量相對(duì)平均頻率偏差的取樣時(shí)間選為10s，連續(xù)測(cè)得3個(gè)相對(duì)平均頻率偏差，取3個(gè)相對(duì)平均頻率偏差的平均值作為第二次測(cè)量結(jié)果；將兩次測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計(jì)算出新的普通晶振被測(cè)件的頻率復(fù)現(xiàn)性；

(3c)在新的普通晶振被測(cè)件再次加電到2小時(shí)時(shí)，先測(cè)量其它測(cè)量通道上的被測(cè)件的相對(duì)平均頻率偏差，然后將測(cè)量新的普通晶振被測(cè)件的相對(duì)平均頻率偏差的取樣時(shí)間選為1s，并連續(xù)測(cè)得101個(gè)相對(duì)平均頻率偏差，再將101個(gè)相對(duì)平均頻率偏差代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計(jì)算出新的普通晶振被測(cè)件的1s頻率穩(wěn)定度；

(4)重復(fù)步驟(2)～(3)，對(duì)后續(xù)的新普通晶振被測(cè)件繼續(xù)進(jìn)行測(cè)量。