[發明專利]在石英晶振自動測試系統運行中測量新加入被測件的方法

有效

• 申請號: 201210388333.7
• 申請日: 2012-10-12
• 公開（公告）號: CN102928692A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 黃河
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/01
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 王品華

1.一種在石英晶振自動測試系統運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，包括如下步驟：

(1)將石英晶振輸出頻率的原始數據測量的時間間隔均設置為1小時，石英晶振自動測試系統啟動后，按每隔1小時的時間間隔測量原來已經加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數據；

(2)在石英晶振自動測試系統運行中加入新的普通晶振被測件：

(2a)在1小時時間間隔內，當有新的普通晶振被測件加入時，首先判斷原來已經加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續等待；若已完成，則根據提示內容加入新的普通晶振被測件，提示內容包括：送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產商、被測件的頻率標稱值、被測件的測量依據、被測件預熱時間；

(2b)在下一個測量時刻到達后，先按順序測量原來已經加入的被測件的相對平均頻率偏差，然后再按新的普通晶振被測件加入順序依次對其加電；

(3)依據《JJG180-2002電子測量儀器內石英晶體振蕩器檢定規程》，測量新的普通晶振被測件的性能：

(3a)新的普通晶振被測件在加電1小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，每隔1小時測量1組，每組連續測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結果，共測25組，得到25個測量數據；將測量數據代入到所述JJG180-2002檢定規程的相應公式中，計算出新的普通晶振被測件的開機特性及日頻率波動，并根據日頻率波動測量結果給出新的普通晶振被測件的頻率準確度，該頻率準確度比日頻率波動低一個數量級；

(3b)25個測量數據測量完成后，將新的普通晶振被測件斷電，同時取25個測量數據中的第25個測量數據作為第一次測量結果，再對新的普通晶振被測件持續斷電24小時；斷電24小時后，給新的普通晶振被測件再次加電，加電1小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，連續測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為第二次測量結果；將兩次測量結果數據代入到所述JJG180-2002檢定規程的相應公式中，計算出新的普通晶振被測件的頻率復現性；

(3c)在新的普通晶振被測件再次加電到2小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后將測量新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間選為1s，并連續測得101個相對平均頻率偏差，再將101個相對平均頻率偏差代入到所述JJG180-2002檢定規程的相應公式中，計算出新的普通晶振被測件的1s頻率穩定度；

(4)重復步驟(2)～(3)，對后續的新普通晶振被測件繼續進行測量。

2.根據權利要求1所述的在石英晶振自動測試系統運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，所述步驟(2)及(3)中的相對平均頻率偏差測量，是先通過測量儀器測量在取樣時間τ內的新的普通晶振被測件的頻率實際值的平均值f_x；然后，代入到公式y(τ)=(f_x-f₀)/f₀中，計算出新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差y(τ)，式中f₀為新的普通晶振被測件的頻率標稱值；

所述測量儀器是指：頻率計、計數器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種。