[發明專利]檢測裝置

無效

• 申請號: 201210382092.5
• 申請日: 2012-10-10
• 公開（公告）號: CN103728544A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發明（設計）人: 蔡泰成;吳岱緯;許國君;許壽文;李允立
• 申請（專利權）人: 新世紀光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 董云海;彭曉玲

【技術領域】

本發明是有關于一種檢測裝置，特別是有關于一種用于檢測發光二極管晶片發光效率的檢測裝置。

【背景技術】

隨著科技進步及生活品質的提升，現代人對于照明更趨重視。從自古藉由物質燃燒以進行發光照明的火把、動植物油燈、蠟燭、煤油燈，藉以電力發光的白熾燈、熒光燈，抑或是現今常用的發光二極管(light-emitting?diode，LED)，皆顯示照明在人類日常生活中扮演極重要的角色。

發光二極管是藉由電子電洞結合以發出單色光，以達到照明或警示的作用。發光二極管相較于傳統光源，具有發光效率高、使用壽命長、不易破損、反應速度快等優點。由于近幾年政府大力的提倡及各城市LED路燈規模的加速擴大下，使用LED作為照明用途已隨處可見。

一般常用點測機以檢測發光二極管晶片的發光效率。點測機是藉由探針提供發光二極管晶片發光的電壓來源，發光二極管晶片發出的光線通過承載發光二極管晶片的載臺，再經由點測機的光感測裝置收集光線，進而判斷發光二極管晶片的發光效率。然而，發光二極管晶片發出的光線卻可能因為光感測裝置偵測范圍的限制，而影響檢測發光二極管晶片發光效率的準確度。

【發明內容】

有鑒于上述現有技藝的問題，本發明的其中一目的就是在提供一種檢測裝置，以解決光感測裝置收光效率不佳的問題。

根據本發明的另一目的，提出一種檢測裝置，以聚集發光二極管晶片發出的光線。

根據本發明的再一目的，提出一種檢測裝置，以準確檢測發光二極管晶片的發光效率。

為達前述目的，本發明提出一種檢測裝置，此檢測裝置包含載臺、點測裝置、光感測裝置及聚光單元。載臺用以承載待測的復數個發光二極管晶片，而點測裝置包含二探針及一電源供應器，探針的二端分別電性連接復數個發光二極管晶片之一者及電源供應器，以令此發光二極管晶片發出復數道光線。光感測裝置設于發光二極管晶片的出光面的一側，用以接收通過發光二極管晶片發出的復數道光線。此外，聚光單元設于發光二極管晶片與光感測裝置之間，用以達到聚集發光二極管晶片發出的復數道光線的目的。并且，聚光單元與載臺連動，藉以經由移動載臺，以檢測復數個發光二極管晶片之另一者。其中，載臺是由光穿透度高于90%以上的材料所構成，且光感測裝置可例如為積分球、太陽能板、光電晶體或光電阻。

根據本發明的第一態樣，本發明的聚光單元為聚光膜，更明確地說，聚光膜為一表面具有復數個微結構的膜片，用以聚集通過聚光膜的復數道光線。

根據本發明的第二態樣，本發明的聚光單元為聚光膜，聚光膜包含具有相對的上、下表面的基材及復數個微結構，該復數個微結構設于基材的鄰近光感測裝置的一側表面，用以聚集通過聚光膜的復數道光線。其中，復數個微結構并無特殊限制，其例如但不限于為復數個棱鏡柱、復數個弧形柱或復數個具弧形表面的凸出體，上述的棱鏡柱具有第一斜面及第二斜面，且第一斜面及第二斜面形成一頂角；上述的弧形柱的頂峰呈圓弧狀。

根據本發明的第三態樣，本發明的聚光單元為會聚透鏡。

根據本發明的第四態樣，本發明的聚光單元為透鏡組。

根據本發明的第五態樣，本發明的聚光單元為導光元件，導光元件包含入光面以及出光面，出光面的面積小于入光面的面積，且入光面面向發光二極管晶片，而出光面面向光感測裝置。

根據本發明的第六態樣，本發明的聚光單元為導光元件，且導光元件內含至少一光纖。

根據本發明的第七態樣，本發明的聚光單元為一具不同折射率的多層膜片。

承上所述，本發明的檢測裝置，其可具有一或多個下述優點：

(1)本發明的檢測裝置，藉由聚光單元聚集發光二極管晶片發出的光線，以解決光感測裝置收光效率不佳的問題。

(2)本發明的檢測裝置，藉由導光元件導引發光二極管晶片發出的光線，以提高光線通過聚光單元并到達光感測裝置的機率。

(3)本發明的檢測裝置，可達到準確檢測發光二極管晶片發光效率的目的。

【附圖說明】

圖1????為本發明的檢測裝置的第一實施例的剖面示意圖。

圖2????為本發明的檢測裝置的第二實施例的剖面示意圖。

圖3A???為本發明的聚光單元的第一態樣剖面示意圖。

圖3B???至圖3D分別為本發明的聚光單元的第二態樣中三種示范例的剖面示意圖。

圖4A???為本發明的聚光單元的第三態樣剖面示意圖。

圖4B???為本發明的聚光單元的第四態樣剖面示意圖。