[發明專利]檢測裝置

無效

• 申請號: 201210382092.5
• 申請日: 2012-10-10
• 公開（公告）號: CN103728544A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發明（設計）人: 蔡泰成;吳岱緯;許國君;許壽文;李允立
• 申請（專利權）人: 新世紀光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 董云海;彭曉玲

1.一種檢測裝置，其特征在于，該檢測裝置至少包含：

一載臺，該載臺用以承載待測的復數個發光二極管晶片；

一點測裝置，該點測裝置包含二探針及一電源供應器，這些探針的二端分別電性連接這些發光二極管晶片之一者及該電源供應器，以令該發光二極管晶片發出復數道光線；

一光感測裝置，該光感測裝置設于該發光二極管晶片的出光面的一側；以及

一聚光單元，該聚光單元設于該發光二極管晶片與該光感測裝置之間。

2.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元與該載臺連動。

3.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元為聚光膜。

4.如權利要求3所述的檢測裝置，其中該聚光膜為一表面具有復數個微結構的膜片。

5.如權利要求3所述的檢測裝置，其中該聚光膜包含一基材及復數個微結構，該基材具有相對的上、下表面，這些微結構設于基材的鄰近該光感測裝置的一側表面，用以聚集通過該聚光膜的這些光線。

6.如權利要求5所述的檢測裝置，其中這些微結構為復數個棱鏡柱，每一這些棱鏡柱具有一第一斜面及一第二斜面，該第一斜面及該第二斜面形成一頂角。

7.如權利要求5所述的檢測裝置，其中這些微結構為復數個弧形柱。

8.如權利要求5所述的檢測裝置，其中這些微結構為復數個具弧形表面的凸出體。

9.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元為會聚透鏡。

10.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元為透鏡組。

11.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元為一導光元件，該導光元件包含一入光面以及一出光面，該出光面的面積小于該入光面的面積，其中該入光面面向該發光二極管晶片，而該出光面面向該光感測裝置。

12.如權利要求11所述的檢測裝置，其中該導光元件內含至少一光纖。

13.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該聚光單元為一具不同折射率的多層膜片。

14.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該載臺是由光穿透度高于90%以上的材料所構成。

15.如權利要求1所述的檢測裝置，其中該光感測裝置為積分球、太陽能板、光電晶體或光電阻。