[發明專利]一種光配向液晶面板光學檢測的方法及其檢測設備

有效

• 申請號: 201210381241.6
• 申請日: 2012-10-10
• 公開（公告）號: CN102866520A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 莫圣鵬;江文彬
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240
• 代理人: 邢濤

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，更具體的說，涉及一種光配向液晶面板光學檢測的方法及其檢測設備。

背景技術

在液晶顯示器中，以三原色為基礎，對應有一個子像素，然后由至少3個分別跟三原色對應的子像素構成一個顯示像素。子像素中填充有液晶，為了提高液晶分子的響應速度，一般都需要將液晶分子預先設置一定的角度。圖1所示為一種采用光配向技術設置液晶分子的預傾角的工藝流程，所謂光配向技術是指在給基板印加電壓的情況下，通過紫外線（UV）光照射促使面板內的取向劑（monomer）反應，從而達到液晶配向的目的。目前，光配向液晶面板技術已廣泛應用于高世代TFT-LCD行業中，在光配向液晶面板時，為了及時發現不合格的產品，需要在紫外線照射（UVM）設備后配置光自動光學（AOI）檢查機，專門檢查經過UVM設備照射完成后基板的配向影像（LC影像）是否有異常。AOI設備能及時攔檢配向異常，避免因UVM設備印加裝置-探頭欄（Probe?bar）連接（Contact）不良造成大量報廢。AOI檢查配向異常的方式為LC影像檢查，是在給基板印加電壓的情況下，由攝像裝置取得LC影像，經由檢查程序預先建立好的模式（Model）影像做比對評分（參見圖2），如果影像差異大則判斷為不合格（NG）；差異小則判斷合格（OK）。目前的影像模式比對只能以單個子像素為檢測單元，獲取單個子像素的邊框影像，然后通過影像邊框差異相似度來判定OK或NG，容易出現漏判的現象。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種減少影像比對誤判，增強攔檢成功率的光配向液晶面板光學檢測的方法及其檢測設備。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的：

一種光配向液晶面板光學檢測的方法，包括步驟：

A、根據光配向液晶面板的一個合格的預設的檢測單元的內部影像生成模式影像；

B、以預設的檢測單元為單位，獲取待檢的光配向液晶面板的檢測單元的內部影像生成待檢影像，跟模式影像進行比對；生成比對結果。

進一步的，所述步驟A中，所述檢測單元為一個子像素，所述模式影像包括所述子像素的內部影像。此為一種具體的檢測單元劃分方式，子像素作為像素的基本構件，進行逐一進行比對，可以提高單個子像素不良的攔檢成功率，確保合格的成品每個子像素的完整性，提升顯示品質。

進一步的，所述模式影像包括至少一個子像素的邊框影像。增加子像素的邊框影像，多了比較特征，判斷更準確。

進一步的，所述步驟A中，所述檢測單元包括至少三個分別跟三原色對應的子像素，所述模式影像包括所有子像素的邊框影像。液晶顯示是以像素為基本的顯示單位，每個像素中包括了至少三個子像素，而在實際生產中可能會出現某個子像素完全沒有顯示的情況，因此，本技術方案至少以一個像素為單位作為檢測單元，可以檢測出像素中單個子像素全無的故障，進一步提升攔檢成功率。

進一步的，所述模式影像包括至少一個子像素的內部影像。增加子像素的內部影像，內部影像的特征比較多，將內部影像加入對比，可以進一步提升判斷的準確性。

進一步的，所述步驟B中，通過計算機模糊比較的方法，將待檢的檢測單元的內部影像跟模式影像進行比對，生成比對結果。此為一種具體的比對方法。

進一步的，所述步驟A中，先通過攝像裝置獲取光配向液晶面板合格的檢測單元的內部影像，然后再通過計算機抽取內部影像的線條特征后重新構圖，形成所述模式影像。發明人研究發現，當發生配向異常時，子像素內部會出現花紋型、魚肚型等暗線，跟正常子像素相比區別明顯，而且不良的圖案呈現出明顯的線條特征，因此，本發明將子像素的內部影像的線條圖案作為模式影像，只要進行線條圖案的比對即可（類似于指紋識別），無須進行顏色相關的特征比對，在保障攔檢成功率的前提下，可以簡化比對難度，提升比對速度。

進一步的，所述步驟A中，先通過調節攝像裝置倍率以及背光源亮度，使檢測單元的內部結構清晰度最大化，然后再獲取光配向液晶面板合格的檢測單元的內部影像，作為模式影像。通過提高影像的分辨率，可以獲取更多的參照特征，有利于提升比對的準確度。

一種光配向液晶面板光學檢測設備，包括：

用于獲取檢測單元內部影像的攝像裝置；

跟攝像裝置耦合、用于獲取光配向液晶面板的一個合格的檢測單元的內部影像，作為模式影像的建模裝置；

以及將待檢的檢測單元的內部影像跟模式影像進行比對的比較裝置。