[發明專利]一種光配向液晶面板光學檢測的方法及其檢測設備有效
| 申請號： | 201210381241.6 | 申請日： | 2012-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN102866520A | 公開（公告）日： | 2013-01-09 |
| 發明（設計）人： | 莫圣鵬;江文彬 | 申請（專利權）人： | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 邢濤 |
| 地址： | 518000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 液晶面板 光學 檢測 方法 及其 設備 | ||
1.一種光配向液晶面板光學檢測的方法，包括步驟：
A、根據光配向液晶面板的預設的一個合格的檢測單元的內部影像生成模式影像；
B、以預設的檢測單元為單位，獲取待檢的光配向液晶面板的檢測單元的內部影像生成待檢影像，跟模式影像進行比對；生成比對結果。
2.如權利要求1所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述步驟A中，所述檢測單元為一個子像素，所述模式影像包括所述子像素的內部影像。
3.如權利要求2所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述模式影像包括至少一個子像素的邊框影像。
4.如權利要求1所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述步驟A中，所述檢測單元包括至少三個分別跟三原色對應的子像素，所述模式影像包括所有子像素的邊框影像。
5.如權利要求4所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述模式影像包括至少一個子像素的內部影像。
6.如權利要求1所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述步驟B中，通過計算機模糊比較的方法，將待檢的檢測單元的內部影像跟模式影像進行比對，生成比對結果。
7.如權利要求1所述的一種光配向液晶面板光學檢測的方法，其特征在于，所述步驟A中，先通過攝像裝置獲取光配向液晶面板合格的檢測單元的內部影像，然后再通過計算機抽取內部影像的線條特征后重新構圖，形成所述模式影像。
8.一種光配向液晶面板光學檢測設備，其特征在于，包括：
用于獲取檢測單元內部影像的攝像裝置；
跟攝像裝置耦合、記錄有光配向液晶面板的一個合格的檢測單元的內部影像生成的模式影像的建模裝置；
以及將待檢的檢測單元的內部影像跟模式影像進行比對的比較裝置。
9.如權利要求8所述的一種光配向液晶面板光學檢測設備，其特征在于，所述檢測單元為一個子像素，所述建模裝置獲取所述子像素的內部影像作為模式影像。
10.如權利要求8所述的一種光配向液晶面板光學檢測設備，其特征在于，所述檢測單元包括至少三個分別跟三原色對應的子像素，所述建模裝置獲取所有子像素的邊框影像作為模式影像。
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