[發明專利]一種基于相關性模型的機內測試設計方法

有效

• 申請號: 201210380555.4
• 申請日: 2012-10-09
• 公開（公告）號: CN102930081A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 李璠;蔣覺義;劉萌萌;曾照洋
• 申請（專利權）人: 中國航空綜合技術研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 李建英

技術領域

本發明屬于測試性技術，涉及一種基于相關性模型的機內測試設計方法。

背景技術

隨著大規模集成電路的發展和應用，電子設備集成度越來越高、功能越來越復雜，隨之而來的是故障模式的多樣化，并體現出較強的耦合性和關聯性，一種故障發生時會引起多個故障同時發生，導致故障檢測和隔離時間長、難度大，維修工作量迅速增加。

機內測試（Built-in?test,BIT）技術是系統或設備依靠其內部檢測電路和檢測軟件來完成系統或設備工作參數監測、故障檢測和隔離的綜合能力。

現有的BIT工程設計方法主要有參數比較法和邊界掃描法。參數比較法是通過與正常工作參數比較來檢測和隔離故障，參數比較法主要依賴設計人員的工程經驗，由于電子設備故障模式多、關聯性強、表征參數多，設計人員要花大量時間確定測試點、監測參數與故障之間的關系，且準確性不高；邊界掃描法雖然能夠將故障隔離到器件，但其只適用于具有邊界掃描功能的器件，且難以在電路正常工作時進行邊界掃描，因此邊界掃描法的使用具有一定的局限性。

目前的BIT測試設計方法中對各測試點和測試項的考慮，主要基于故障模式的檢測和隔離，在設計過程中僅注重測試點的檢測隔離效果、實現難易程度和給系統附加的影響，較少顧及各測試點的平均故障間隔時間和測試成本，最終得到的測試點個數較多，可能存在設計冗余，致使產品系統復雜度高，可靠性下降，測試成本高，測試周期長，對人員需求高；同時存在對故障模式的檢測隔離方法分配困難等問題。

發明內容

本發明的目的是提出一種測試準確性高、故障源查找速度快的一種基于相關性模型的機內測試設計方法。

本發明的技術解決方案是，步驟一：建立相關性模型的數學模型，相關性模型的數學模型的依存矩陣表示：

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