[發明專利]一種基于相關性模型的機內測試設計方法有效
| 申請號: | 201210380555.4 | 申請日: | 2012-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN102930081A | 公開(公告)日: | 2013-02-13 |
| 發明(設計)人: | 李璠;蔣覺義;劉萌萌;曾照洋 | 申請(專利權)人: | 中國航空綜合技術研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心 11008 | 代理人: | 李建英 |
| 地址: | 100028*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 相關性 模型 測試 設計 方法 | ||
1.一種基于相關性模型的機內測試設計方法,其特征是,
步驟一:建立相關性模型的數學模型,相關性模型的數學模型的依存矩陣表示:
其中故障模式總數為p,測試的個數為q,矩陣的第i行[di1??di2…diq]表示的是產品第i個故障模式和每一個測試上的相關性,矩陣的第j列[d1j??d2j…dpj]T,表示的是第j個測試和每個故障模式之間的相關性,當dij=0時,表示第i個故障模式和第j個測試不相關,當dij=1時,表示第i個故障模式和第j個測試相關;
步驟二:簡化依存矩陣,簡化依存矩陣包括消除冗余測試和合并模糊組兩部分,
消除冗余測試:比較依存矩陣的各列,對存在的完全相同的列,保留其中一列,刪除其余列,直到各列均不相同;合并模糊組:比較依存矩陣的各行,對存在的完全相同的行,合并為一行,作為一個故障模式模糊組的測試向量,直到各行均不相同;獲得簡化后的依存矩陣D0:
其中1≤i≤n≤p,1≤j≤m≤q,Fi表示簡化后的第i個故障模式或故障模式模糊組,F0表示無故障狀態,Tj表示簡化后的第j個測試;
步驟三:以D0為輸入,生成被診斷的故障模式或故障模式模糊組的最小測試向量矩陣,具體過程如下:
從D0矩陣中抽取與Fi所對應的k個列組成向量,其中1≤k≤m,k的初始值為1。對k個列的抽取為排列組合形式,抽取總數為對抽取總數為中的每一種抽取情況進行編碼ID1,…,IDj,…,得到Fi所對應的測試向量矩陣為
步驟四:確定中最優測試向量,按照下式計算每一行測試向量所對應的測試權重測試權重最小的測試向量為最優測試向量,
其中:Tj為測試向量元素對應的測試的平均故障間隔時間(h),Mj為測試向量元素對應的測試成本,∑T為所有測試的平均故障間隔時間(h)的總和,∑M為所有測試的測試成本的總和;
步驟五:將步驟四中確定的最優測試向量作為故障判據部署至機內測試系統中。
2.根據權利要求1所述的一種基于相關性模型的機內測試設計方法,其特征是,所述的每一個測試是指,當一個物理測試點完成兩個以上故障特征狀態的測試時,測試即為一個物理測試點執行的測試項;當一個物理測試點完成單個故障特征狀態的測試時,測試即為一個物理測試點。
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