[發明專利]一種預防晶圓滑落的裝置及方法有效
| 申請號: | 201210375754.6 | 申請日: | 2012-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN102915937A | 公開(公告)日: | 2013-02-06 |
| 發明(設計)人: | 顧曉芳;劉永波;倪棋梁;龍吟;陳宏璘 | 申請(專利權)人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/683 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 預防 圓滑 裝置 方法 | ||
1.一種預防晶圓滑落的裝置,應用于晶圓檢測機臺上,包括用于固定晶圓的固定器,所述固定器通過管腳固定所述晶圓,其特征在于,還包括與所述機臺的檢測系統通訊連接的光檢測裝置;
所述管腳上設置有與所述光檢測裝置匹配的通孔;
所述光檢測裝置包括光信號發射裝置和光信號接收裝置,所述光信號發射裝置發射的光信號通過所述通孔照射到所述光信號接收裝置上;
其中,所述通孔位于所述管腳上與所述晶圓卡接時的重疊部分。
2.根據權利要求1所述的預防晶圓滑落的裝置,其特征在于,所述管腳的材質為能夠遮擋所述光信號傳輸的材質。
3.根據權利要求1所述的預防晶圓滑落的裝置,其特征在于,所述光發射裝置發射的光信號不能透過所述晶圓傳輸。
4.根據權利要求1所述的預防晶圓滑落的裝置,其特征在于,所述光檢測裝置與所述機臺的報警系統連接。
5.根據權利要求1所述的預防晶圓滑落的裝置,其特征在于,每個所述管腳上均設置有光檢測裝置。
6.一種預防晶圓滑落的方法,包括如權利要求1-5中任意一項所述的預防晶圓滑落的裝置,其特征在于,還包括:
步驟S1:將所述晶圓卡接至所述固定器的管腳上;
步驟S2:管腳上設置的光檢測裝置均進行光信號檢測;
步驟S3:若有任意一個所述光檢測裝置的光信號接收裝置上接收到光信號發射裝置發射的光信號,則啟動報警裝置并進行停機檢查;
步驟S4:調整固定器,并將所述晶圓重新卡接至所述固定器的管腳上,并依次重復步驟S2和步驟S3;
步驟S5:若任意一個所述光檢測裝置的光信號接收裝置上均沒有接收到光信號發射裝置發射的光信號,則繼續進行晶圓檢測分析工藝。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海華力微電子有限公司,未經上海華力微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210375754.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種治療暑熱郁阻所致皮膚長癤的中藥方
- 下一篇:一種用中藥辯證治療痔瘡的方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





