[發明專利]1553B總線通信器件高低溫測試裝置

有效

• 申請號: 201210363938.0
• 申請日: 2012-09-26
• 公開（公告）號: CN102916852A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: 李春;王延旗;張方
• 申請（專利權）人: 中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26;H04L12/40
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 顧潮琪

技術領域

本發明是一種實現1553B總線通信器件全部通信功能的高低溫測試的裝置，屬于測試技術領域。

背景技術

1553B總線是一種數字式時分指令響應型多路傳輸數據總線，具有抗干擾能力強、可靠性高和實時傳輸等優點，廣泛應用于航天、航空等領域中。

1553B總線通信器件多為二次集成封裝的數?；旌想娐罚芤?種工作模式進行10條不同類型消息的總線通信；1553B總線通信器件的3種工作模式分別為：BC（BusControl，總線控制器）模式、RT（Remote?Terminal，遠程終端）模式和BM（Bus?Monitor，總線監視器）模式。要實現1553B總線通信器件的全部通信功能的測試，需要CPU對其進行工作模式切換和進行發送、接收以及偵聽不同類型消息的控制。

混合電路傳統的高低溫測試有兩種方法：一是將被測電路單獨放入溫控箱內升/降溫至目標溫度，保溫一段時間，然后將電路從溫控箱內取出放到測試電路板上進行測試。這種測試方法只能適用于功能簡單，測試時間持續很短的電路，不能應用于1553B總線通信器件的通信功能測試。另一種方法是整機測試技術方案，將被測電路連同測試電路板一同放入溫控箱進行升/降溫控制，在溫控箱內對電路進行測試。這種方法可以實現1553B總線通信器件全部通信功能的測試。但是，由于整個測試電路板上的元器件與被測電路同時處于高低溫環境中，使得被測電路要求的溫度范圍和測試電路板的使用壽命成為一對突出的矛盾。對于H級（溫度要求為-40°C~125°C）1553B總線通信器件的測試，這種方法也不能滿足要求。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明提供一種高低溫測試裝置，滿足H級1553B總線通信器件高低溫測試功能覆蓋性要求，測試溫度范圍滿足要求。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案包括：高低溫氣流沖擊設備Thermojet、溫控適配箱、溫度測試儀、測試電路板和主控計算機。

測試電路板置于溫控適配箱上，通過Thermojet控制溫控適配箱內的溫度，只改變被測1553B總線通信器件的溫度，并用溫度測試儀監測被測1553B總線通信器件的溫度，保證被測1553B總線通信器件處于一個穩定的滿足測試要求的高/低溫環境中；

Thermojet的溫控范圍、溫控適配箱的耐溫范圍和溫度測試儀的溫度測量范圍均超過-40°C~125°C。在測試過程中Thermojet處于工作狀態，對被測1553B總線通信器的溫度進行實時監測，根據監測值對Thermojet的輸出氣流溫度進行調整。

測試電路板的結構為：被測1553B總線通信器件安裝在測試電路板的反面，所有被測1553B總線通信器件通過1553B主干線連接組成一個1553B總線通信網絡；CPU、地址譯碼電路、RT地址控制電路和仿真器接口電路位于測試電路板的正面；CPU同時控制至少4只被測1553B總線通信器件，每只被測1553B總線通信器件的寄存器區和內存區通過地址譯碼電路映射到CPU的不同物理地址位置，CPU對不同物理地址進行讀寫操作，即實現了對不同被測1553B總線通信器件的控制；CPU對被測1553B總線通信器件寄存器區和內存區映射的CPU物理地址寫入BC、RT和BM模式初始化數據，實現對被測1553B總線通信器件的BC、RT和BM工作的模式切換；在測試時，所有被測1553B總線通信器件中有一個為BC工作模式，一個為BM工作模式，其余的被測1553B總線通信器件為RT工作模式。通過CPU控制處于BC工作模式的被測1553B總線通信器件發送不同類型的消息，在每一條消息發送結束后，CPU讀取內存堆棧區的BC塊狀態字進行判斷；BC塊狀態字的錯誤位為1時，總線通信出現錯誤，為0時通信正確；在測試電路板的正面，每只被測1553B總線通信器件都設計有與1553B主干線的1553B總線接口；主控計算機通過測試電路板正面的仿真器接口實現與CPU的連接。

所述的測試電路板要進行涂覆三防漆處理。

主控計算機通過仿真器接口控制測試電路板上的CPU執行測試流程、監測被測1553B總線通信器件的狀態、顯示并記錄測試結果。

本發明的有益效果是：