[發明專利]1553B總線通信器件高低溫測試裝置有效
| 申請號: | 201210363938.0 | 申請日: | 2012-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN102916852A | 公開(公告)日: | 2013-02-06 |
| 發明(設計)人: | 李春;王延旗;張方 | 申請(專利權)人: | 中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26;H04L12/40 |
| 代理公司: | 西北工業大學專利中心 61204 | 代理人: | 顧潮琪 |
| 地址: | 710000*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 1553 總線 通信 器件 低溫 測試 裝置 | ||
1.一種1553B總線通信器件高低溫測試裝置,包括高低溫氣流沖擊設備Thermojet、溫控適配箱、溫度測試儀、測試電路板和主控計算機,其特征在于:
測試電路板置于溫控適配箱上,通過Thermojet控制溫控適配箱內的溫度,只改變被測1553B總線通信器件的溫度,并用溫度測試儀監測被測1553B總線通信器件的溫度,保證被測1553B總線通信器件處于一個穩定的滿足測試要求的高/低溫環境中;
測試電路板的結構為:被測1553B總線通信器件安裝在測試電路板的反面,所有被測1553B總線通信器件通過1553B主干線連接組成一個1553B總線通信網絡;CPU、地址譯碼電路、RT地址控制電路和仿真器接口電路位于測試電路板的正面;CPU同時控制至少4只被測1553B總線通信器件,每只被測1553B總線通信器件的寄存器區和內存區通過地址譯碼電路映射到CPU的不同物理地址位置;CPU對被測1553B總線通信器件寄存器區和內存區映射的CPU物理地址寫入BC、RT和BM模式初始化數據,實現對被測1553B總線通信器件的BC、RT和BM工作的模式切換;在測試時,所有被測1553B總線通信器件中有一個為BC工作模式,一個為BM工作模式,其余的被測1553B總線通信器件為RT工作模式;通過CPU控制處于BC工作模式的被測1553B總線通信器件發送不同類型的消息,在每一條消息發送結束后,CPU讀取內存堆棧區的BC塊狀態字進行判斷;BC塊狀態字的錯誤位為1時,總線通信出現錯誤,為0時通信正確;在測試電路板的正面,每只被測1553B總線通信器件都設計有與1553B主干線的1553B總線接口;主控計算機通過測試電路板正面的仿真器接口實現與CPU的連接;
主控計算機通過仿真器接口控制測試電路板上的CPU執行測試流程、監測被測1553B總線通信器件的狀態、顯示并記錄測試結果。
2.根據權利要求1所述的1553B總線通信器件高低溫測試裝置,其特征在于:所述的Thermojet的溫控范圍、溫控適配箱的耐溫范圍和溫度測試儀的溫度測量范圍均超過-40°C~125°C。
3.根據權利要求1所述的1553B總線通信器件高低溫測試裝置,其特征在于:所述的測試電路板進行涂覆三防漆處理。
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