[發(fā)明專(zhuān)利]一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210363300.7
• 申請(qǐng)日: 2012-09-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102866318A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-01-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邱云峰;袁文;楊曉宏;張文輝
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 貴陽(yáng)中新專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 52100
• 代理人: 吳無(wú)懼

1.一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置，其特征在于：它包括電極底板（1）、穿孔限位板（2）和壓板（3），電極底板（1）置于底層，穿孔限位板（2）位于電極底板（1）上表面，壓板（3）位于穿孔限位板（2）上表面。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置，其特征在于：穿孔限位板（2）和壓板（3）四個(gè)角的限位孔（7）分別插入電極底板（1）四個(gè)角的限位緊固螺絲（4）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置，其特征在于：電極底板（1）上布置有正電極（12）和負(fù)電極（13），底板（1）右側(cè)有多針插座（8）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置，其特征在于：穿孔限位板（2）上有穿孔（5），穿孔（5）數(shù)量大于一個(gè)，成矩陣排列。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置其特征在于：壓板（3）為二層結(jié)構(gòu)，上層為金屬板，下層為彈性橡膠。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置其特征在于：電極底板（1）上的正電極（12）和負(fù)電極（13）組成電極對(duì)（9），電極對(duì)（9）的個(gè)數(shù)大于1個(gè)，成矩陣式排列。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置其特征在于：電極底板（1）上每一列正電極（12）接至多針插座（8）的第一排插針上，電極底板（1）上每一行的負(fù)電極（13）接至多針插座（8）的第二排插針上。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種片式封裝分立器件測(cè)試裝置其特征在于：底板（3）下層彈性橡膠上有凸起的半球形彈性橡膠顆粒（6），凸起的半球形彈性橡膠顆粒（6）個(gè)數(shù)大于一個(gè)，成矩陣式排列。