[發明專利]具有工具軌跡顯示功能的數值控制裝置

有效

• 申請號: 201210362266.1
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN103019154A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 巖下平輔;小川肇
• 申請（專利權）人: 發那科株式會社
• 主分類號: G05B19/18
• 分類號: G05B19/18
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;郭鳳麟

技術領域

本發明涉及具有顯示機床的工具前端點等代表點的軌跡的功能的數值控制裝置。

背景技術

歷來，作為確認加工形狀的誤差的方法，使用重疊顯示機床的工具前端點等的代表點的指令軌跡、和遵照該指令軌跡使工具前端點等的代表點實際移動時的反饋軌跡、通過視覺確認對于指令軌跡的誤差的工具軌跡顯示方法。例如在日本特開2003-75472號公報中公開了根據從控制裝置取得的伺服信息，在同一顯示框內重疊顯示兩個伺服信息波形的技術。

在日本特開平6-59717號公報中，公開了具有顯示解析NC程序生成的工具的移動軌跡、和在該移動軌跡上重疊顯示根據該移動軌跡使工具移動時的工具的位置數據的功能的NC裝置。

在日本特開2006-227886號公報中公開了伺服控制裝置以及伺服系統的調整方法，這里，記載有“向伺服系統提供具有周期性的作為移動指令的正弦波形的圓弧指令，把由此產生的位置反饋數據及其1/4周期前或1/4周期后的數據或者根據該1/4周期前或1/4周期后的上述位置指令產生的位置數據變換為X軸以及Y軸的各個位置數據，在二維平面（X-Y平面）上描畫”。

進而在日本特開2011-22666號公報中記載有具有能夠重疊描繪顯示工具軌跡和鉆孔圖和工件圖的NC程序的解析編輯裝置。

以前，因為不能分別重疊顯示加工速度等加工條件變更前后的反饋軌跡，所以為了通過視覺比較這些軌跡，需要在不同的顯示器上分別顯示，不能高精度地評價加工條件變更前后的軌跡形狀的不同。

例如，在日本特開2003-75472號公報中雖然有關于時間軸基準的重疊的記載，但是未提到工具軌跡那樣的不通過時間軸的數據的重疊。在日本特開平6-59717號公報以及日本特開2006-227886號公報中，雖然記載有在指令軌跡上重疊顯示反饋軌跡，但是未提到重疊顯示多個反饋軌跡。再有在日本特開2011-22666號公報中雖然記載有重疊顯示工具軌跡和工件的加工形狀以及鉆孔狀態，但是未提到重疊顯示多個反饋軌跡的方法。

發明內容

因此，本發明的目的是提供一種數值控制裝置，其能夠通過視覺高精度地確認·分析加工條件變更前后的工具的軌跡變化。

為實現上述目的，本發明提供一種數值控制裝置，其具有：控制機床具有的至少一個驅動軸的數值控制部；從上述驅動軸的位置反饋數據以及上述機床的機械結構的信息計算工具的代表點的第一反饋軌跡的工具坐標計算部；存儲上述第一反饋軌跡的工具軌跡存儲部；和顯示上述第一反饋軌跡的顯示部，上述顯示部在該顯示部上顯示的第一反饋軌跡上重疊顯示至少一個以上的在上述工具軌跡存儲部中存儲的過去的第二反饋軌跡。

在優選的實施方式中，上述顯示部顯示從用于控制上述驅動軸的位置指令以及上述機床的機械結構的信息算出的工具的代表點的指令軌跡，進而在上述指令軌跡上重疊顯示至少一個以上的上述第一以及第二反饋軌跡。

在優選的實施方式中，上述指令軌跡或者上述第一以及第二反饋軌跡是把三維軌跡向二維平面投影的軌跡。

在優選的實施方式中，上述顯示部把上述第一或者第二反饋軌跡對于上述指令軌跡的誤差或者上述第一以及第二反饋軌跡之間的誤差僅在該誤差方向上放大顯示。

附圖說明

通過參照附圖同時對于以下優選的實施方式的說明，能夠更加明了本發明的上述或者其他目的、特征以及優點。

圖1是表示本發明的實施方式的數值控制裝置的概略結構的框圖；

圖2是表示數值控制裝置的處理的一例的流程圖；

圖3是表示重疊顯示矩形的指令軌跡、加工條件不同的兩個反饋軌跡的例子的圖；

圖4是放大顯示圖3的矩形的角部的圖；

圖5是表示放大顯示兩個反饋軌跡對于指令軌跡的誤差的例子的圖；

圖6是表示在指令軌跡是圓的情況下放大顯示兩個反饋軌跡對于該指令軌跡的誤差的例子的圖；

圖7是表示在二維圖表上重疊投影兩個三維反饋軌跡的例子的圖。

具體實施方式