[發(fā)明專利]一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210362077.4 | 申請日: | 2012-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN103674259A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王淑華;王廣平;陳偉力;姜維維;朱小芳 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航天科工集團(tuán)第二研究院二〇七所 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 核工業(yè)專利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
| 地址: | 100854*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適用于 紅外 定量 處理 多點 均勻 校正 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法,特別是涉及一種光電測量技術(shù)領(lǐng)域的適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法。
背景技術(shù)
由于紅外熱像儀自身的非均勻性修正不完善,使得熱像儀采集的紅外圖像呈現(xiàn)不同程度的不均勻,不僅影響圖像的視覺效果,也很大程度影響了定量處理的精度。目前探測器的不均勻性主要表現(xiàn)為:
●亮黑疵點多,主要是由于探測器自身帶來的,屬于物理疵點;
●視場邊緣響應(yīng)不均勻,主要是由于光學(xué)系統(tǒng)引起的;
●視場中心區(qū)域局部響應(yīng)不均勻,主要是探測器像素間的響應(yīng)不一致引起的。
●環(huán)境背景溫差較大出現(xiàn)光圈和光暈,主要是探測器像素間溫度響應(yīng)不一致引起的。
針對這些成像的問題,亟需提供一種新型的適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種實現(xiàn)紅外傳感器成像的不均勻性校正,祛除亮黑疵點,修正像素間的響應(yīng)差異,提高成像質(zhì)量,為定量處理提供優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)源的適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法,依次包括以下步驟:
步驟1、采集多個溫度點充滿熱像儀視場的圖像,分別記錄為Gi(x,y),i∈N,x∈m,y∈n,N為均勻熱像幀數(shù),m、n為圖像行列值;
步驟2、得到每一幀圖像的均值
步驟3、建立聯(lián)立方程組;
式中:α(x,y),β(x,y)為每個像素的修正因子;
步驟4、利用最小二乘法求解得到α(x,y),β(x,y);
步驟5、得到校正圖像
充滿熱像儀視場的圖像為3副,分別為20℃、30℃和50℃。
本發(fā)明與單點校正相比,不僅可以提高圖像的非均勻性,同時可祛除亮黑疵點。
本發(fā)明可修正輻射變化較大背景引起的不均勻性響應(yīng)。
本發(fā)明同時可修正光學(xué)鏡頭引起的非均勻性響應(yīng)。
附圖說明
圖1為非均勻性校正前圖像。
圖2為非均勻性校正后圖像。
具體實施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國航天科工集團(tuán)第二研究院二〇七所,未經(jīng)中國航天科工集團(tuán)第二研究院二〇七所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210362077.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





