[發明專利]一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法在審
| 申請號： | 201210362077.4 | 申請日： | 2012-09-25 |
| 公開（公告）號： | CN103674259A | 公開（公告）日： | 2014-03-26 |
| 發明（設計）人： | 王淑華;王廣平;陳偉力;姜維維;朱小芳 | 申請（專利權）人： | 中國航天科工集團第二研究院二〇七所 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 核工業專利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100854*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 適用于 紅外 定量 處理 多點 均勻 校正 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法，依次包括以下步驟：
步驟1、采集多個溫度點充滿熱像儀視場的圖像，分別記錄為Gi(x,y)，i∈N，x∈m,y∈n，N為均勻熱像幀數，m、n為圖像行列值；
步驟2、得到每一幀圖像的均值
步驟3、建立聯立方程組；
式中：α(x,y)，β(x,y)為每個像素的修正因子；
步驟4、利用最小二乘法求解得到α(x,y)，β(x,y)；
步驟5、得到校正圖像
2.根據權利要求1所述的一種適用于紅外熱像定量處理的多點非均勻性校正方法，其特征在于：充滿熱像儀視場的圖像為3副，分別為20℃、30℃和50℃。
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