[發明專利]放射線檢測設備和包括該放射線檢測設備的檢測系統

無效

• 申請號: 201210347102.1
• 申請日: 2012-09-18
• 公開（公告）號: CN103006245A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 渡邊實;望月千織;橫山啟吾;大藤將人;川鍋潤;藤吉健太郎;和山弘
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;H01L27/146
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 歐陽帆

1.一種檢測設備，包括：

轉換元件，被配置為將放射線或者光轉換成電荷；

晶體管，被配置為根據電荷將電信號輸出給信號布線，所述晶體管包括與轉換元件連接的第一區域、與信號布線連接的第二區域、布置在第一區域與第二區域之間的第一溝道區、布置在第一區域與第一溝道區之間的第二溝道區、與第一溝道區對應的第一柵極電極以及與第二溝道區對應的第二柵極電極；

與第一柵極電極連接的第一驅動布線；

與第二柵極電極連接的第二驅動布線；

第一導通電壓供應單元，被配置為將允許第一溝道區處于導通狀態的第一導通電壓供應給第一驅動布線；

第二導通電壓供應單元，被配置為將允許第二溝道區處于導通狀態的第二導通電壓供應給第二驅動布線；以及

選擇單元，被配置為選擇在第二驅動布線與第一導通電壓供應單元之間的第一連接以及在第二驅動布線與第二導通電壓供應單元之間的第二連接中的任何一個。

2.根據權利要求1所述的檢測設備，還包括被配置為控制選擇單元的控制單元，

其中控制單元控制選擇單元以便在多個拍攝模式之中的第一拍攝模式中選擇第二連接并且在多個拍攝模式之中的第二拍攝模式中選擇第一連接，以及

其中，晶體管的操作速度在第二拍攝模式中比在第一拍攝模式中高。

3.根據權利要求2所述的檢測設備，其中，在第二拍攝模式中，第一導通電壓供應單元在其中由第二導通電壓供應單元將第二導通電壓供應給第二柵極電極的狀態中將第一導通電壓供應給第一柵極電極。

4.根據權利要求3所述的檢測設備，其中第一柵極電極的寬度比第二柵極電極的寬度窄，并且第一溝道區的長度比第二溝道區的長度短。

5.根據權利要求3所述的檢測設備，其中多個第二柵極電極被設置，并且多個第二溝道區被設置。

6.根據權利要求1所述的檢測設備，

其中多個像素被布置在襯底上并且排列成行和列的矩陣，所述多個像素中的每一個包括轉換元件和晶體管，

轉換元件被布置在襯底上，

晶體管是被布置在襯底和轉換元件之間的薄膜晶體管，以及

薄膜晶體管包括包含第一溝道區、第二溝道區、第一區域和第二區域的半導體層，并且半導體層是多晶的半導體層。

7.根據權利要求6所述的檢測設備，

其中像素還包括與用于使轉換元件初始化的電源布線連接的用于初始化的薄膜晶體管，

用于初始化的薄膜晶體管包括包含布置在與轉換元件連接的第三區域和與電源布線連接的第四區域之間的第三溝道區和布置在第三區域和第三溝道區之間的第四溝道區的半導體層、與第三溝道區對應的第三柵極電極、以及與第四溝道區對應地設置的第四柵極電極。

8.根據權利要求7所述的檢測設備，其中第三柵極電極的寬度比第四柵極電極的寬度窄。

9.根據權利要求7所述的檢測設備，其中多個第三柵極電極被設置，并且多個第三溝道區被設置。

10.一種檢測系統，包括：

根據權利要求1所述的檢測設備；

信號處理單元，被配置為處理來自檢測設備的信號；

記錄單元，被配置為記錄來自信號處理單元的信號；

顯示單元，被配置為顯示來自信號處理單元的信號；以及

傳輸處理單元，被配置為傳輸來自信號處理單元的信號。