[發明專利]PCIE總線設備存儲空間性能測試方法在審
| 申請號： | 201210339764.4 | 申請日： | 2012-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN103678055A | 公開（公告）日： | 2014-03-26 |
| 發明（設計）人： | 吳偉林;王亮;黃耀;姜維;陳春梅 | 申請（專利權）人： | 成都林海電子有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 四川力久律師事務所 51221 | 代理人： | 林輝輪;王蕓 |
| 地址： | 611731 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | pcie 總線 設備 存儲空間 性能 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種PCIE總線設備存儲空間性能測試方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
步驟1：獲取PCIE總線設備存儲空間容量；
步驟2：根據PCIE總線設備存儲空間容量，分配與PCIE總線設備存儲空間容量一致的讀數據緩沖區和寫數據緩沖區；
步驟3：向寫數據緩沖區填充數據；
步驟4：將寫數據緩沖區填充的數據寫入PCIE總線設備存儲空間；
步驟5：將PCIE總線設備存儲空間寫入的數據讀取到讀數據緩沖區；
步驟6：檢查讀數據緩沖區的數據與寫數據緩沖區的數據是否相同，如果讀數據緩沖區和寫數據緩沖區中對應位置的對應數據相同，則PCIE總線設備存儲空間正常工作，否則PCIE總線設備存儲空間不能正常工作。
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