[發(fā)明專利]圖像處理裝置以及圖像處理方法有效

申請?zhí)枺?/td>	201210313702.6	申請日：	2012-08-29
公開（公告）號：	CN103164852A	公開（公告）日：	2013-06-19
發(fā)明（設計）人：	神田大和;北村誠;松田岳博;河野隆志;弘田昌士	申請（專利權）人：	奧林巴斯株式會社
主分類號：	G06T7/00	分類號：	G06T7/00
代理公司：	北京三友知識產(chǎn)權代理有限公司 11127	代理人：	李輝;于英慧
地址：	日本***	國省代碼：	日本;JP
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摘要：
搜索關鍵詞：	圖像處理裝置以及方法
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【說明書】：

技術領域

本發(fā)明涉及從圖像檢測特定區(qū)域的圖像處理裝置以及圖像處理方法。

背景技術

作為從圖像檢測特定區(qū)域的技術，例如在日本特開2008－93172號公報中公開了一種圖像處理裝置的結構，該圖像處理裝置針對拍攝活體內部得到的體腔內圖像（管腔內圖像），根據(jù)關注像素和位于其周圍的多個周圍像素的像素值變化量檢測異常部（病變部候選區(qū)域）。更詳細地說，在日本特開2008－93172號公報中，以關注像素為中心按照每個預先設定的方向（縱向、橫向、斜向等），從關注像素隔開預定距離，計算相對設定的周圍像素的平均像素值與關注像素的像素值的差分值，并根據(jù)這些差分值檢測相對于周圍產(chǎn)生了預定的像素值變化的區(qū)域作為異常部。

但是，在如上所述那樣根據(jù)關注像素和周圍像素的像素值變化檢測異常部的方法中，需要根據(jù)作為檢測對象的異常部的大小，設定關注像素與周圍像素的距離。因此，在為了檢測較小的異常部而將距離設定得較短的情況下，如果異常部較大，則有時不能在關注像素和周圍像素之間充分檢測表示邊界的像素值變化，從而檢測靈敏度可能降低。另一方面，在為了檢測較大的異常部而將距離設定得較長的情況下，如果異常部較小，則檢測遠離異常部的周圍的像素的像素值變化，從而可能產(chǎn)生將正常的像素值變化錯誤檢測為異常部等問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明正是鑒于上述情況而做出的，其目的在于提供不論作為檢測對象的異常部的大小如何，都能夠穩(wěn)定地檢測異常部的圖像處理裝置以及圖像處理方法。

本發(fā)明的一個方式的圖像處理裝置具有：特征量計算部，其計算圖像內的各像素的特征量、或將所述圖像分割為多個區(qū)域后的各區(qū)域的特征量；近似形狀計算部，其在以所述特征量為分量的特征空間中計算對所述特征量分布的分布區(qū)域的形狀進行近似的近似形狀；以及異常部檢測部，其根據(jù)所述近似形狀和所述分布區(qū)域的形狀，檢測所述圖像內的異常部。

本發(fā)明的另一方式的圖像處理方法包含：特征量計算步驟，計算圖像內的各像素的特征量、或將所述圖像分割為多個區(qū)域后的各區(qū)域的特征量；近似形狀計算步驟，在以所述特征量為分量的特征空間中計算對所述特征量分布的分布區(qū)域的形狀進行近似的近似形狀；以及異常部檢測步驟，根據(jù)所述近似形狀和所述分布區(qū)域的形狀，檢測所述圖像內的異常部。

如果將以下本發(fā)明的詳細說明與附圖對照著進行閱讀，則能夠進一步理解以上所述的情況以及本發(fā)明的其它目的、特征、優(yōu)點和技術及產(chǎn)業(yè)上的意義。

附圖說明

圖1是示出本發(fā)明實施方式1的圖像處理裝置的結構的框圖。

圖2是示出圖1所示的圖像處理裝置的動作的流程圖。

圖3是示出R－G特征空間中的特征量分布和對該分布擬合直線的結果的例子的曲線圖。

圖4是示出變形例1－1的圖像處理裝置的圖形擬合部的結構的框圖。

圖5是示出變形例1－1的圖像處理裝置的動作的流程圖。

圖6是示出R－G特征空間中的特征量分布和對該分布擬合曲線的結果的例子的曲線圖。

圖7是示出變形例1－2的圖像處理裝置的圖形擬合部的結構的框圖。

圖8是示出變形例1－2的圖像處理裝置的動作的流程圖。

圖9是示出變形例1－3的圖像處理裝置的異常部檢測部的結構的框圖。

圖10是示出變形例1－3的圖像處理裝置的動作的流程圖。