[發明專利]增大測試信號頻率的方法以及測試信號產生設備

無效

• 申請號: 201210313047.4
• 申請日: 2012-08-29
• 公開（公告）號: CN102798814A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 王磊
• 申請（專利權）人: 上海宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/28
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

技術領域

本發明涉及信號測試領域，更具體地說，本發明涉及一種增大測試信號頻率的方法以及測試信號產生設備。

背景技術

在芯片或電路測試期間，需要產生測試信號。具體地說，例如，測試信號包括用于定時的時鐘信號，而且時鐘信號一般為方波信號。

并且，在芯片或電路測試期間，對于工作頻率較高的芯片或電路，需要產生頻率較高的時鐘頻率的時鐘信號來進行定時。但是，測試機所產生的方波的最高頻率是受到限制的。一般測試機都有最高的輸出頻率，例如50M。

在需要產生高于有最高的輸出頻率(例如50M)的方波信號時，如果不對測試機進行改進，則無法實現高于最高輸出頻率的方波信號。

因此，希望能夠提供一種可以輸出高于測試機的最高輸出頻率的方波信號的解決方案。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術中存在上述缺陷，提供一種能夠擴大測試機所能實現的方波信號的最高輸出頻率的范圍的增大測試信號頻率的方法以及測試信號產生設備。

根據本發明的第一方面，提供了一種增大測試信號頻率的方法，其包括：第一步驟：利用測試機的第一輸出通道來產生第一初始測試信號；第二步驟：利用測試機的第二輸出通道來產生第二初始測試信號，其中，所述第一初始測試信號的高電平的持續期處于所述第二初始測試信號的低電平的持續期內，并且所述第二初始測試信號的高電平的持續期處于所述第一初始測試信號的低電平的持續期內；初始測試信號組合步驟：將所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號組合以產生最終測試信號，其中，當所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號之一為高電平時，在相應持續期內最終測試信號為高電平。

優選地，所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號均為占空比為1/4的方波信號，并且所述第一初始測試信號的定時和所述第二初始測試信號的定時之間相差半個周期，由此所得到的最終測試信號是占空比為1/2的頻率相比所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號增大一倍的方波信號。

根據本發明的第二方面，提供了一種增大測試信號頻率的方法，其包括：初始測試信號產生步驟：利用測試機的多個輸出通道來分別產生多個初始測試信號，其中，所述多個初始測試信號中的任何一個初始測試信號的高電平的持續期處于其它初始測試信號的低電平的持續期內；初始測試信號組合步驟：將所述多個初始測試信號進行組合以產生最終測試信號，其中，當所述多個初始測試信號中的任何一個初始測試信號為高電平時，在相應持續期內最終測試信號為高電平。

優選地，通過或邏輯門電路實現所述初始測試信號組合步驟。

優選地，通過相接多個驅動能力的通道來實現所述初始測試信號組合步驟。

根據本發明的第三方面，提供了一種測試信號產生設備，其包括：測試機，用于在第一輸出通道和第二輸出通道分別產生第一初始測試信號和第二初始測試信號，其中，所述第一初始測試信號的高電平的持續期處于所述第二初始測試信號的低電平的持續期內，并且所述第二初始測試信號的高電平的持續期處于所述第一初始測試信號的低電平的持續期內；或邏輯門電路，其兩個輸入端分別接所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號，其輸出端輸出最終測試信號。

優選地，所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號均為占空比為1/4的方波信號，并且所述第一初始測試信號的定時和所述第二初始測試信號的定時之間相差半個周期，由此所得到的最終測試信號是占空比為1/2的頻率相比所述第一初始測試信號和所述第二初始測試信號增大一倍的方波信號。

根據本發明的第四方面，提供了一種測試信號產生設備，其特征在于包括：測試機，用于在多個輸出通道分別產生第多個初始測試信號，其中，所述多個初始測試信號中的任何一個初始測試信號的高電平的持續期處于其它初始測試信號的低電平的持續期內；或邏輯門電路，其多個輸入端分別接多個初始測試信號，其輸出端輸出最終測試信號。

根據本發明，可通過犧牲測試機的測試通道來增加測試頻率，由此提供了一種能夠擴大測試機所能實現的方波信號的最高輸出頻率的范圍的增大測試信號頻率的方法以及測試信號產生設備。

附圖說明

結合附圖，并通過參考下面的詳細描述，將會更容易地對本發明有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優點和特征，其中：

圖1示意性地示出了根據本發明第一實施例的增大測試信號頻率的方法的示意圖。

圖2示意性地示出了根據本發明第三實施例的測試信號產生設備的框圖。