[發(fā)明專利]降低串?dāng)_和提高量子效率的圖像傳感器結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210309512.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103426890A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡雙吉;楊敦年;劉人誠(chéng);洪豐基;林政賢;王文德 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孫征 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 降低 提高 量子 效率 圖像傳感器 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總的來(lái)說(shuō)涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,更具體地,涉及減低串?dāng)_和提高量子效率的圖像傳感器結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體圖像傳感器通常利用形成在半導(dǎo)體襯底的像素區(qū)域陣列內(nèi)的一系列光電二極管,以在光撞擊光電二極管時(shí)進(jìn)行感測(cè)。在每個(gè)像素區(qū)域內(nèi)與每個(gè)光電二極管相鄰可以形成轉(zhuǎn)移晶體管,以在期望時(shí)間傳送由光電二極管內(nèi)的感測(cè)光所生成的信號(hào)。這種光電二極管和轉(zhuǎn)移二極管允許通過(guò)在期望時(shí)間操作轉(zhuǎn)移晶體管來(lái)在期望時(shí)間捕獲圖像。
通常可以在前照式結(jié)構(gòu)和背照式結(jié)構(gòu)中形成互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體圖像傳感器。在前照式結(jié)構(gòu)中,光從圖像傳感器的形成轉(zhuǎn)移晶體管的“前”側(cè)穿過(guò)光電二極管。然而,迫使光在到達(dá)光電二極管之前穿過(guò)任何上覆的金屬層、介電層并經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)移晶體管會(huì)產(chǎn)生加工和/或操作間題,因?yàn)榻饘賹印⒔殡妼雍娃D(zhuǎn)移晶體管不一定必須是半透明且容易允許光穿過(guò)。
在背照式結(jié)構(gòu)中,轉(zhuǎn)移晶體管、金屬層和介電層形成在襯底的前側(cè)上,光從襯底的“背”側(cè)穿過(guò)光電二極管,使得光在到達(dá)轉(zhuǎn)移晶體管、介電層或金屬層之前撞擊光電二極管。這種結(jié)構(gòu)可以降低制造圖像傳感器及其操作的復(fù)雜度。
然而,互相相鄰的像素區(qū)域會(huì)干擾彼此的操作,這已知為串?dāng)_。當(dāng)光從一個(gè)像素區(qū)域進(jìn)入相鄰的像素區(qū)域時(shí)會(huì)出現(xiàn)串?dāng)_,從而使得相鄰的像素區(qū)域感測(cè)到光。這種串?dāng)_會(huì)降低圖像傳感器的精度和量子效率。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種半導(dǎo)體器件,包括:襯底,包括像素區(qū)域,像素區(qū)域結(jié)合光電二極管;柵格,設(shè)置在襯底之上,柵格具有限定腔的壁,腔與像素區(qū)域垂直對(duì)準(zhǔn);以及濾色器,設(shè)置在柵格的壁之間的腔中。
優(yōu)選地,柵格是金屬。
更優(yōu)選地,金屬是鎢。
更優(yōu)選地,金屬是鋁和銅中的一種。
優(yōu)選地,柵格包括低折射率材料。
更優(yōu)選地,低折射率材料是氧化物。
優(yōu)選地,柵格設(shè)置在背照式膜的上方。
優(yōu)選地,濾色器包括聚合物。
優(yōu)選地,微透鏡設(shè)置在濾色器的頂面上方和與濾色器相鄰的柵格的壁的頂面上方。
優(yōu)選地,柵格被配置為將光導(dǎo)向光電二極管。
優(yōu)選地,柵格被配置為抑制光學(xué)串?dāng)_。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種半導(dǎo)體器件,包括:襯底,包括像素區(qū)域,每個(gè)像素區(qū)域都結(jié)合光電二極管;柵格,設(shè)置在襯底之上,柵格具有限定腔的壁,每個(gè)腔都與一個(gè)像素區(qū)域垂直對(duì)準(zhǔn);濾色器,設(shè)置在每個(gè)腔中;以及微透鏡,設(shè)置在每個(gè)濾色器之上。
優(yōu)選地,柵格包括一種金屬和一種低折射率介電材料。
優(yōu)選地,濾色器的頂面與鄰近濾色器的所述柵格的壁的頂面基本共面。
優(yōu)選地,柵格抑制結(jié)合到相鄰像素區(qū)域中的光電二極管之間的光學(xué)串?dāng)_。
根據(jù)本發(fā)明的又一方面,提供了一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括:在半導(dǎo)體器件的像素區(qū)域中形成光電二極管;在襯底上方沉積覆蓋柵格層;對(duì)覆蓋柵格層進(jìn)行圖案化以形成柵格,柵格具有限定腔的壁,腔垂直設(shè)置在像素區(qū)域上方;以及用濾色器填充所述腔。
優(yōu)選地,該方法進(jìn)一步包括:在濾色器的頂面上方沉積微透鏡。
優(yōu)選地,該方法進(jìn)一步包括:在與濾色器相鄰的柵格的壁的頂面上方沉積微透鏡。
優(yōu)選地,在襯底上方沉積覆蓋柵格層包括沉積金屬。
優(yōu)選地,在襯底上方沉積覆蓋柵格層包括沉積鎢。
附圖說(shuō)明
為了更加完整地理解本公開(kāi)及其優(yōu)點(diǎn),現(xiàn)在結(jié)合附圖進(jìn)行以下描述,其中:
圖1是具有金屬柵格形式的圖像傳感器結(jié)構(gòu)的示例性半導(dǎo)體器件的截面。
圖2是圖1的柵格的俯視圖。
圖3是填充可變顏色的濾色器的示例性柵格的頂部的截面;以及
圖4a-4g示意性示出了形成具有圖1金屬柵格形式的圖像傳感器結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件的方法實(shí)施例。
具體實(shí)施方式
下面詳細(xì)討論目前優(yōu)選實(shí)施例的制造和使用。然而,應(yīng)該理解,本公開(kāi)提供了許多可以在各種具體環(huán)境中具體化的可應(yīng)用發(fā)明概念。所討論的具體實(shí)施例只是說(shuō)明性的而不限制本公開(kāi)的范圍。
在具體環(huán)境(即,半導(dǎo)體器件)下參照優(yōu)選實(shí)施例描述本公開(kāi)。然而,本公開(kāi)的概念同樣應(yīng)用于其他半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)或電路。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





