[發(fā)明專利]一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架

無效

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• 申請日: 2012-08-27
• 公開（公告）號: CN102840428A
• 公開（公告）日: 2012-12-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姚利軍;沈濤;黃建領(lǐng)
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計(jì)量測試研究所
• 主分類號: F16M11/06
• 分類號: F16M11/06;F16M11/16;F16M11/28;G01R29/08
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張文祎

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架。

背景技術(shù)

校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性時(shí)，通常需要應(yīng)用校準(zhǔn)系統(tǒng)來測試多個(gè)位置點(diǎn)。校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性時(shí)，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調(diào)節(jié)測試探頭的位置。具體地，校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性時(shí)，通常需要通過調(diào)節(jié)支架來改變探頭的高度，甚至需要通過移動支架實(shí)現(xiàn)探頭位置的改變?，F(xiàn)有技術(shù)中的支架在用于校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性時(shí)非常不便，校準(zhǔn)速度緩慢。

目前，非常需要一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性的支架。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架。

本發(fā)明提供的用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架包括支撐桿、安裝座、旋轉(zhuǎn)環(huán)、定位環(huán)、旋轉(zhuǎn)盤、旋鈕和測試桿，所述安裝座設(shè)于所述支撐桿的頂端，所述定位環(huán)的一側(cè)設(shè)有第一凸緣，所述第一凸緣的外徑與所述旋轉(zhuǎn)環(huán)的內(nèi)徑匹配，使得所述第一凸緣能夠穿過所述旋轉(zhuǎn)環(huán)與所述安裝座固接，所述定位環(huán)的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個(gè)凹槽，所述定位環(huán)的中心設(shè)有至少一個(gè)連接鍵，每個(gè)所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接，每個(gè)所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接，所述旋轉(zhuǎn)盤的一側(cè)設(shè)有外徑小于所述定位環(huán)內(nèi)徑的第二凸緣，所述第二凸緣上設(shè)有與所述定位鍵配合的缺口，所述旋轉(zhuǎn)盤的設(shè)有所述第二凸緣的一側(cè)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸，所述第二凸緣從所述定位環(huán)的與所述第一凸緣相對的一側(cè)穿進(jìn)所述定位環(huán)，且所述定位鍵能夠穿過所述缺口，所述旋鈕安裝于所述轉(zhuǎn)軸上，且所述旋鈕能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述旋轉(zhuǎn)環(huán)與所述旋轉(zhuǎn)盤固接，所述測試桿固接于所述旋轉(zhuǎn)盤的與所述第二凸緣相對的一側(cè)，所述測試桿上設(shè)有至少一個(gè)探頭固定裝置。

優(yōu)選地，所述安裝座呈圓環(huán)形且設(shè)有多個(gè)第一螺孔，所述第一凸緣上設(shè)有多個(gè)與所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述定位環(huán)通過所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述安裝座固接。

優(yōu)選地，所述旋轉(zhuǎn)環(huán)設(shè)有多個(gè)第三螺孔，所述旋轉(zhuǎn)盤上設(shè)有多個(gè)與所述第三螺孔配合的第四螺孔，所述旋轉(zhuǎn)盤通過所述第三螺孔和所述第四螺孔與所述旋轉(zhuǎn)環(huán)固接。

優(yōu)選地，每個(gè)所述連接鍵的一端設(shè)有第五螺孔，所述旋鈕上設(shè)有至少一個(gè)與所述第五螺孔配合的第六螺孔，所述連接鍵通過所述第五螺孔和所述第六螺孔與所述旋鈕固接。

優(yōu)選地，每個(gè)所述連接鍵的另一端設(shè)有不帶螺紋的通孔，所述連接鍵通過所述通孔與所述定位鍵鉸接。

優(yōu)選地，所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。

優(yōu)選地，所述支撐桿的高度可調(diào)。

優(yōu)選地，所述測試桿的長度可調(diào)。

優(yōu)選地，所述探頭固定裝置設(shè)于所述測試桿的末端或中間。

本發(fā)明具有如下有益效果：

(1)當(dāng)校準(zhǔn)瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時(shí)，能夠使校準(zhǔn)速度明顯加快；

(2)所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高；

(3)所述支架制作成本低，使用方便。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架的示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場場均勻性的支架的安裝座2、旋轉(zhuǎn)環(huán)3、定位環(huán)4、旋轉(zhuǎn)盤5和旋鈕6的連接示意圖；

圖3為旋鈕6被沿逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)時(shí)定位環(huán)4的俯視圖；

圖4為停止旋轉(zhuǎn)旋鈕6且測試桿7的位置固定時(shí)定位環(huán)4的俯視圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容作進(jìn)一步的描述。