[發明專利]一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架無效
| 申請號: | 201210308610.9 | 申請日: | 2012-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN102840428A | 公開(公告)日: | 2012-12-26 |
| 發明(設計)人: | 姚利軍;沈濤;黃建領 | 申請(專利權)人: | 北京無線電計量測試研究所 |
| 主分類號: | F16M11/06 | 分類號: | F16M11/06;F16M11/16;F16M11/28;G01R29/08 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張文祎 |
| 地址: | 100854 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 快速 校準 電磁 場場 均勻 支架 | ||
1.用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,該支架包括支撐桿(1)、安裝座(2)、旋轉環(3)、定位環(4)、旋轉盤(5)、旋鈕(6)和測試桿(7),所述安裝座(2)設于所述支撐桿(1)的頂端,所述定位環(4)的一側設有第一凸緣(41),所述第一凸緣(41)的外徑與所述旋轉環(3)的內徑匹配,使得所述第一凸緣(41)能夠穿過所述旋轉環(3)與所述安裝座(2)固接,所述定位環(4)的內周側設有多個凹槽(42),所述定位環(4)的中心設有至少一個連接鍵(43),每個所述連接鍵(43)的一端與所述旋鈕(6)固接,每個所述連接鍵(43)的另一端與定位鍵(44)鉸接,所述旋轉盤(5)的一側設有外徑小于所述定位環(4)內徑的第二凸緣(51),所述第二凸緣(51)上設有與所述定位鍵(44)配合的缺口(52),所述旋轉盤(5)的設有所述第二凸緣(51)的一側的中心設有轉軸(53),所述第二凸緣(51)從所述定位環(4)的與所述第一凸緣(41)相對的一側穿進所述定位環(4),且所述定位鍵(44)能夠穿過所述缺口(52),所述旋鈕(6)安裝于所述轉軸(53)上,且所述旋鈕(6)能夠繞所述轉軸(53)轉動,所述旋轉環(3)與所述旋轉盤(5)固接,所述測試桿(7)固接于所述旋轉盤(5)的與所述第二凸緣(51)相對的一側,所述測試桿(7)上設有至少一個探頭固定裝置(71)。
2.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述安裝座(2)呈圓環形且設有多個第一螺孔(21),所述第一凸緣(41)上設有多個與所述第一螺孔(21)配合的第二螺孔(45),所述定位環(4)通過所述第一螺孔(21)和所述第二螺孔(45)與所述安裝座(2)固接。
3.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述旋轉環(3)設有多個第三螺孔(31),所述旋轉盤(5)上設有多個與所述第三螺孔(31)配合的第四螺孔(54),所述旋轉盤(5)通過所述第三螺孔(31)和所述第四螺孔(54)與所述旋轉環(3)固接。
4.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,每個所述連接鍵(43)的一端設有第五螺孔(431),所述旋鈕(6)上設有至少一個與所述第五螺孔(431)配合的第六螺孔(61),所述連接鍵(43)通過所述第五螺孔(431)和所述第六螺孔(61)與所述旋鈕(6)固接。
5.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,每個所述連接鍵(43)的另一端設有不帶螺紋的通孔(432),所述連接鍵(43)通過所述通孔(432)與所述定位鍵(44)鉸接。
6.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述支架還包括與支撐桿(1)的底端固接的底座(8)。
7.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述支撐桿(1)的高度可調。
8.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述測試桿(7)的長度可調。
9.根據權利要求1所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架,其特征在于,所述探頭固定裝置(71)設于所述測試桿(7)的末端或中間。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京無線電計量測試研究所,未經北京無線電計量測試研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210308610.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





