[發明專利]一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架

無效

• 申請號: 201210308587.3
• 申請日: 2012-08-27
• 公開（公告）號: CN102840427A
• 公開（公告）日: 2012-12-26
• 發明（設計）人: 姚利軍;沈濤;黃建領
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: F16M11/06
• 分類號: F16M11/06;F16M11/16;F16M11/20;G01R29/08
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張文祎

1.用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，

該支架包括底座(1)、轉軸(2)、圓拱形的第一拱襯(31)、圓拱形的第二拱襯(32)、第一測試桿(41)、第二測試桿(42)、第一旋鈕(51)、第二旋鈕(52)、第一探頭固定裝置(61)和第二探頭固定裝置(62)；

所述底座(1)的上表面設有凸起(7)，所述轉軸(2)固定于所述凸起(7)上，所述第一拱襯(31)和所述第二拱襯(32)設于所述底座(1)的上表面，且所述凸起(7)和所述轉軸(2)穿過所述第一拱襯(31)和所述第二拱襯(32)的中空部分，所述第一拱襯(31)所在的平面和所述第二拱襯(32)所在的平面分別與所述底座(1)的上表面垂直；

所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)的底端分別呈“h”字形，所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)的底端分別與所述轉軸(2)鉸接，且所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)分別能夠繞所述轉軸(2)轉動，所述第一拱襯(31)被設置為穿過所述第一測試桿(41)的底端的缺口(412)，所述第二拱襯(32)被設置為穿過所述第二測試桿(42)的底端的缺口(422)；

所述第一拱襯(31)上設有圓拱形的第一凹槽(311)，所述第一旋鈕(51)上設有螺紋，所述第一測試桿(41)底端的第二側板(414)上設有與所述第一旋鈕(51)配合的螺紋，所述第一旋鈕(51)穿過所述第一測試桿(41)底端的第一側板(413)和所述第一凹槽(311)與所述第一測試桿(41)底端的第二側板(414)配合，通過旋緊所述第一旋鈕(51)能夠使所述第一測試桿(41)的位置固定；

所述第二拱襯(32)上設有圓拱形的第二凹槽(321)，所述第二旋鈕(52)上設有螺紋，所述第二測試桿(42)底端的第四側板(424)上設有與所述第二旋鈕(52)配合的螺紋，所述第二旋鈕(52)穿過所述第二測試桿(42)底端的第三側板(423)和所述第二凹槽(321)與所述第二測試桿(42)底端的第四側板(424)配合，通過旋緊所述第二旋鈕(52)能夠使所述第二測試桿(42)的位置固定；

所述第一探頭固定裝置(61)設于所述第一測試桿(41)上；所述第二探頭固定裝置(62)設于所述第二測試桿(42)上，所述第一探頭固定裝置(61)能夠沿所述第一測試桿(41)自由滑動，所述第二探頭固定裝置(62)能夠沿所述第二測試桿(42)自由滑動，所述第一探頭固定裝置(61)上設有第三旋鈕(611)，所述第二探頭固定裝置(62)上設有第四旋鈕(621)，通過旋緊所述第三旋鈕(611)能夠使所述第一探頭固定裝置(61)的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕(621)能夠使所述第二探頭固定裝置(62)的位置固定。

2.根據權利要求1所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，所述第一拱襯(31)和所述第二拱襯(32)上分別設有角度刻度。

3.根據權利要求1所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，所述第一測試桿(41)的底端設有第一角度觀察窗(411)，所述第二測試桿(42)的底端設有第二角度觀察窗(421)。

4.根據權利要求1所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)上分別設有長度刻度。

5.根據權利要求1所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，所述第一探頭固定裝置(61)上設有第一長度觀察窗(612)，所述第二探頭固定裝置(62)上設有第二長度觀察窗(622)。

6.根據權利要求1所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，所述凸起(7)呈圓拱形。