[發明專利]陣列圖形檢測的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210302723.8
• 申請日: 2012-08-23
• 公開（公告）號: CN102928434A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 許杰
• 申請（專利權）人: 深圳市納研科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 深圳市中聯專利代理有限公司 44274
• 代理人: 李俊

技術領域

本發明涉及到圖形檢測領域，特別涉及到一種陣列圖形檢測的方法和裝置。

背景技術

隨著大規模工業生產的發展，對產品質量的控制要求越來越高，傳統利用人眼對產品進行檢測的方式已遠遠不能滿足現代工業生產的需求，利用機器視覺取代人眼來對產品進行缺陷檢測以及質量控制已經是大勢所趨，而在多種類型的工業產品中，存在大量重復性陣列圖形的產品占有相當大的比重（例如曝光后的液晶面板）。

目前常用的兩種針對陣列圖形缺陷檢測有兩種方法：

方法一：陣列圖形單元模板匹配法：利用單一陣列圖形單元的完好圖像或者CAD圖形作為標準模板，與待測陣列圖形產品中每一個單元進行比較，存在缺陷的區域由于與標準模板不同而被檢測出來。但是，采用這種方法，由于標準單元模板單一，因此對產品中細微變化的適應性比較差，極易發生將正常區域識別為缺陷造成誤判的情況。

方法二：全局模板匹配法：利用完整產品的完好圖像或者CAD圖形作為標準模板，與整個待測產品進行比較，存在缺陷的區域由于與模板不同而被檢測出來。但是，采用這種方法，由于模板單一，對產品細微變化等變化敏感，特別是在光照條件的變化以及產品出現細微變形的情況下，對圖像采集一致性要求高；并且模板需要與采集的圖像精確配準才能得到正確結果。

發明內容

本發明的主要目的為提供一種陣列圖形檢測的方法和裝置，旨在實現無需任何模板，也不需要精確匹配即可實現對陣列圖形的缺陷提取；并且能夠減少陣列圖形的檢測過程中誤判發生的情況，從而使得檢測效率高，適合在線檢測要求。

本發明提供一種陣列圖形檢測的方法，包括：

根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征；

判斷所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征是否一致，若是，則存儲當前幀中的陣列圖形；

若否，則將當前幀中的所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比，根據對比結果輸出缺陷位置。

優選地，在執行所述根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征之前，還包括：

根據陣列圖形的速度和準確性要求，設定用于與當前幀中陣列圖形進行比較的圖形幾何參數。

優選地，當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征一致時：

判定所述當前幀為正常幀，存儲當前幀中的陣列圖形，作為用于與存在缺陷的陣列圖形比較的比較圖形。

優選地，當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征不一致時：

判定所述當前幀的陣列圖形存在缺陷，將所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比；

根據對比結果，提取出缺陷位置在所述陣列圖形中的位置；

輸出所述缺陷位置。

本發明還提供一種陣列圖形檢測的裝置，包括：

提取模塊，用于根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征；

判斷模塊，用于判斷所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征是否一致；

存儲模塊，用于若是，則存儲當前幀中的陣列圖形；

對比及輸出模塊，用于若否，則將當前幀中的所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比，根據對比結果輸出缺陷位置。

優選地，陣列圖形檢測的裝置還包括：

設定模塊，用于根據陣列圖形的速度和準確性要求，設定用于與當前幀中陣列圖形進行比較的圖形幾何參數。

優選地，所述存儲模塊用于：

當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征一致時，判定所述當前幀為正常幀，存儲當前幀中的陣列圖形，作為用于與存在缺陷的陣列圖形比較的比較圖形。

優選地，，所述對比及輸出模塊包括：

對比單元，用于當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征不一致時，判定所述當前幀的陣列圖形存在缺陷，將所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比；

提取單元，用于根據對比結果，提取出缺陷位置在所述陣列圖形中的位置；

輸出單元，用于輸出所述缺陷位置。