[發明專利]陣列圖形檢測的方法和裝置有效
| 申請號： | 201210302723.8 | 申請日： | 2012-08-23 |
| 公開（公告）號： | CN102928434A | 公開（公告）日： | 2013-02-13 |
| 發明（設計）人： | 許杰 | 申請（專利權）人： | 深圳市納研科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 深圳市中聯專利代理有限公司 44274 | 代理人： | 李俊 |
| 地址： | 518026 廣東省深圳市福田區深*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 陣列 圖形 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種陣列圖形檢測的方法，其特征在于，包括：
根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征；
判斷所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征是否一致，若是，則存儲當前幀中的陣列圖形；
若否，則將當前幀中的所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比，根據對比結果輸出缺陷位置。
2.如權利要求1所述的陣列圖形檢測的方法，其特征在于，在執行所述根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征之前，還包括：
根據陣列圖形的速度和準確性要求，設定用于與當前幀中陣列圖形進行比較的圖形幾何參數。
3.如權利要求2所述的陣列圖形檢測的方法，其特征在于，當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征一致時：
判定所述當前幀為正常幀，存儲當前幀中的陣列圖形，作為用于與存在缺陷的陣列圖形比較的比較圖形。
4.如權利要求1至3中任一項所述的陣列圖形檢測的方法，其特征在于，當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征不一致時：
判定所述當前幀的陣列圖形存在缺陷，將所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比；
根據對比結果，提取出缺陷位置在所述陣列圖形中的位置；
輸出所述缺陷位置。
（加裝置不會縮小專利的保護范圍）。
5.一種陣列圖形檢測的裝置，其特征在于，包括：
提取模塊，用于根據預設的圖形幾何參數，提取當前幀中陣列圖形的實際圖形幾何特征；
判斷模塊，用于判斷所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征是否一致；?
存儲模塊，用于若是，則存儲當前幀中的陣列圖形；
對比及輸出模塊，用于若否，則將當前幀中的所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比，根據對比結果輸出缺陷位置。
6.如權利要求5所述的陣列圖形檢測的裝置，其特征在于，還包括：
設定模塊，用于根據陣列圖形的速度和準確性要求，設定用于與當前幀中陣列圖形進行比較的圖形幾何參數。
7.如權利要求6所述的陣列圖形檢測的裝置，其特征在于，所述存儲模塊用于：
當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征一致時，判定所述當前幀為正常幀，存儲當前幀中的陣列圖形，作為用于與存在缺陷的陣列圖形比較的比較圖形。
8.如權利要求5至7中任一項所述的陣列圖形檢測的裝置，其特征在于，所述對比及輸出模塊包括：
對比單元，用于當判斷出所述實際圖形幾何特征與所述預設的圖形幾何參數的特征不一致時，判定所述當前幀的陣列圖形存在缺陷，將所述陣列圖形與之前所存儲的比較圖形進行對比；
提取單元，用于根據對比結果，提取出缺陷位置在所述陣列圖形中的位置；
輸出單元，用于輸出所述缺陷位置。?
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