[發明專利]一種薄膜晶體管驅動背板的制作方法有效
| 申請號: | 201210285677.5 | 申請日: | 2012-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN102768992A | 公開(公告)日: | 2012-11-07 |
| 發明(設計)人: | 徐苗;彭俊彪;羅東向;王磊;蘭林鋒 | 申請(專利權)人: | 廣州新視界光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 薄膜晶體管 驅動 背板 制作方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體領域,尤其涉及一種金屬氧化物半導體薄膜晶體管的制作方法。
背景技術
薄膜晶體管(TFT,Thin?Film?Transistor)目前主要應用于驅動液晶顯示器(LCD,Liquid?Crystal?Display)和有機發光二極管(OLED,Organic?Light-Emitting?Diode)顯示器的子像素。采用薄膜晶體管陣列制成的驅動背板,是顯示屏能實現更高的像素密度、開口率和提升亮度的關鍵部件。目前TFT-LCD普遍采用基于非晶硅作為有源層的TFT背板。但是由于非晶硅(a-Si)遷移率過低(0.1cm2V-1s-1左右),不能滿足OLED顯示屏、高清TFT-LCD以及3D顯示的要求。而金屬氧化半導體作為薄膜晶體管的有源層材料,由于其高遷移率,低沉積溫度以及透明的光學特性被視為下一代的顯示背板技術。目前吸引了世界范圍內研究者得關注。高遷移率的特點使其能夠滿足未來顯示技術對于高刷新頻率、大電流薄膜晶體管的要求。而低于100℃的工藝溫度,使得利用金屬氧化制備柔性顯示器件成為可能。
目前已大規模應用于LCD行業的是基于a-Si的TFT背板技術。該技術最少可使用4次光罩技術完成驅動背板的制作。而對于遷移率大于10cm2V-1s-1的材料,目前僅有單晶硅、低溫多晶硅以及金屬氧化物三種選擇。其中單晶硅工藝溫度高,無法實現大面積顯示屏的制作,因此僅用于微顯示領域。而低溫多晶硅工藝,成熟于20世紀90年代,目前已有大量的高分辨LCD以及OLED產品面市。但是低溫多晶硅工藝復雜(9次光罩左右),設備成本昂貴,這也是阻礙其發展的重要因素。
而對于金屬氧化物半導體材料,其遷移率較高,完全能夠滿足顯示應用的需求,并且在電學均勻性方面大大優于低溫多晶硅。但是,現有的金屬氧化物半導體材料的制造工藝繁雜,制作成本較高,不利于金屬氧化物半導體材料在驅動背板制作中的推廣使用。
發明內容
本發明實施例提供了一種薄膜晶體管驅動背板的制作方法,用于高效的使用金屬氧化物半導體材料制作薄膜晶體管的驅動背板。
本發明提供的薄膜晶體管驅動背板的制作方法,包括:制備并圖形化金屬導電層;在所述金屬導電層上依次沉積絕緣薄膜和金屬氧化物薄膜,分別作為柵極絕緣層和有源層;根據所述金屬導電層的形狀圖形化所述有源層;在所述有源層上沉積絕緣薄膜作為刻蝕阻擋層;使用灰度掩膜版圖形化工藝,在所述柵極絕緣層制備接觸孔并圖形化所述刻蝕阻擋層,定義薄膜晶體管源漏電極區域和所述存儲電容的有效面積;在所述刻蝕阻擋層上沉積并圖形化導電薄膜層。
可選的,所述制備并圖形化金屬導電層之前,包括:在透明襯底上沉積二氧化硅(SiO2)或氮化硅(Si3N4)作為緩沖層;
所述制備并圖形化金屬導電層,包括:在所述緩沖層上沉積并圖形化金屬導電層。
可選的,制備所述金屬導電層所使用的金屬包括:
鋁(Al),銅(Cu),鉬(Mo),鈦(Ti),銀(Ag),金(Au),鉭(Ta),鉻(Cr)單質或鋁合金;
所述金屬導電層為單層金屬薄膜,或由單層Al,Cu,Mo,Ti,Ag,Au,Ta,Cr或鋁合金中任意兩層以上組成的多層薄膜;
所述金屬導電層的厚度為100nm至2000nm;
所述金屬導電層作為電信號導線,薄膜晶體管柵極以及像素電路儲存電容下電極的載體層。
所述金屬導電層上依次沉積絕緣薄膜和金屬氧化物薄膜,分別作為柵極絕緣層和有源層;
可選的,所述根據金屬導電層的形狀圖形化所述有源層,包括:
在所述有源層上制備與所述金屬導電層的形狀一致的正性光刻膠;使用
刻蝕劑對沒有覆蓋所述正性光刻膠的所述有源層進行刻蝕。
可選的,所述在有源層上制備與所述金屬導電層的形狀一致的正性光刻膠,包括:
在所述金屬導電層上覆蓋正性光刻膠;
使用圖形化后的金屬導電層作為自對準光刻掩膜版;
將紫外光由所述玻璃襯底一側入射,對所述正性光刻膠進行曝光;
經顯影后所得到與金屬導電層的形狀一致的正性光刻膠。
可選的,所述使用灰度掩膜版圖形化工藝,在所述柵極絕緣層制備接觸孔并圖形化所述刻蝕阻擋層,定義薄膜晶體管源漏電極區域和所述存儲電容的有效面積,包括:
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





