[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于檢測(cè)靜電放電保護(hù)芯片焊接異常的裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210282018.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102830323A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-12-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧明鋒;蔡榮茂;文松賢;莊益壯 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/02 |
| 代理公司: | 深圳匯智容達(dá)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊賢卿 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 檢測(cè) 靜電 放電 保護(hù) 芯片 焊接 異常 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及薄膜晶體管液晶顯示器技術(shù)(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display,?TFT-LCD),特別涉及一種應(yīng)用于TFT-LCD中,用于檢測(cè)靜電放電保護(hù)芯片焊接異常的裝置及方法。
背景技術(shù)
TFT-LCD已經(jīng)成為了現(xiàn)代信息技術(shù)以及視訊產(chǎn)品中非常重要的顯示平臺(tái)。如圖1所示,示出了一種典型的TFT-LCD的架構(gòu)。TFT-LCD主要驅(qū)動(dòng)原理為:控制系統(tǒng)主板將R/G/B(紅/綠/藍(lán))壓縮信號(hào)、控制信號(hào)及電源通過(guò)線(xiàn)材與位于其印刷電路板(Printed?circuit?board,?PCB)板上的連接器(connector)相連接,從而使得LCD面板(顯示區(qū))獲得其所需的電源及信號(hào)。
通過(guò)連接器傳送到PCB板上的信號(hào)主要為低壓差分信號(hào)(Low?Voltage?Differential?Signaling,?LVDS)格式,其中,每?jī)蓚€(gè)LVDS連接腳組成一個(gè)傳輸通道,用于傳送數(shù)據(jù)或時(shí)鐘,其中一個(gè)LVDS連接腳為正輸出端,另一個(gè)為負(fù)輸出端,例如,在圖1中,LV1P0與LV1N0形成一個(gè)數(shù)據(jù)通道。這些LVDS信號(hào)在PCB板上會(huì)通過(guò)專(zhuān)用集成電路芯片(Application?Specific?Integrated?Circuit,?ASIC)分別向傳送給源極芯片(Source-Chip?on?Film,?S-COF)和柵極芯片(Gate-Chip?on?Film,?G-COF),通過(guò)源極芯片和柵極芯片來(lái)控制LCD面板(即顯示區(qū))進(jìn)行數(shù)據(jù)或圖像的顯示。而為了避免連接器在插拔中產(chǎn)生的靜電對(duì)ASIC芯片造成損壞,一般需在連接器與ASIC連接處設(shè)置對(duì)重要的信號(hào)的靜電放電保護(hù)芯片(Electronic?Static?Discharge,?ESD),后文簡(jiǎn)稱(chēng)為ESD保護(hù)芯片。
如圖2所示,即示出了一種ESD保護(hù)芯片及其與ASIC的連接結(jié)構(gòu)示意圖。該ESD保護(hù)芯片具有若干組LVDS連接腳(圖中示出了兩組),以及地腳(GND)和電源腳(VDD)。其中每組LVDS連接腳均分別連接ASIC上的一組LVDS連接腳和連接器上的一組連接腳。圖中,ESD保護(hù)芯片的管腳3連接ASIC及連接器上的管腳LV1P0,管腳1連接ASIC及連接器上的管腳LV1P1;同理,ESD保護(hù)芯片的另一組LVDS連接腳(管腳4和6)分別連接ASIC和連接器的管腳LV1P1以及管腳LVIN1。
在ESD保護(hù)芯片內(nèi)部設(shè)置有以一定秩序連接的多個(gè)二極管(D1~D8)以及穩(wěn)壓二極管D0。
可以理解的是,上述只指出了兩組LVDS連接腳,在其他的實(shí)施例中,ESD保護(hù)芯片可以對(duì)更多組的LVDS連接腳進(jìn)行靜電保護(hù),其內(nèi)部電路及與ASIC及連接器的連接方式與圖2中示出的類(lèi)似,在此不進(jìn)行詳述。
如圖3所示,是圖2中ESD保護(hù)芯片的工作原理示意圖。
以L(fǎng)V1P0信號(hào)從連接傳輸?shù)紸SIC為例子說(shuō)明。假設(shè)ESD保護(hù)芯片內(nèi)二極管特性相同,正向?qū)〞r(shí)壓降為UD+(例如0.7V),反向截止壓降為UD-(例如3V),其中在該LVDS傳輸線(xiàn)路中,假設(shè)傳輸信號(hào)電壓值U(例如,1.2V),則這三者之間的關(guān)系為UD+<U<?UD-。。在正常狀態(tài)下從連接的LV1P0連接腳輸入正常LVDS信號(hào)時(shí),由于ESD芯片中穩(wěn)壓二極管D0處于反向截止?fàn)顟B(tài),因此信號(hào)傳輸路線(xiàn)如圖中黑色粗線(xiàn)所示,信號(hào)能夠正常傳輸?shù)紸SIC的管腳LV1P0。
如圖4所示,示出圖2中ESD保護(hù)芯片焊接異常的工作原理圖。
仍然以L(fǎng)V1P0信號(hào)從連接腳傳輸?shù)紸SIC為例進(jìn)行說(shuō)明,當(dāng)ESD保護(hù)芯片在PCB板上焊接翻轉(zhuǎn)時(shí),其信號(hào)傳輸路線(xiàn)如圖中黑色粗線(xiàn)所示,從連接器的LV1P0腳輸入正常LVDS信號(hào)時(shí),傳輸?shù)男盘?hào)經(jīng)由二極管D1后流入地線(xiàn),此時(shí)ASIC中管腳LV1P0處的電壓失真為二極管D1的導(dǎo)通壓降的UD+,從而導(dǎo)致輸出到液晶面板的信號(hào)異常從而造成顯示出來(lái)的畫(huà)面異常。
由于現(xiàn)有的判別ESD保護(hù)芯片是否焊接異常只能通過(guò)人眼來(lái)實(shí)現(xiàn),但是ESD保護(hù)芯片的正反標(biāo)志難于辨別,因此單純利用人眼很難將異常品(焊接異常的產(chǎn)品)從正常品(焊接正確的產(chǎn)品)中分離出來(lái),從而會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品在裝配是出現(xiàn)不良。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于,提供一種用于檢測(cè)靜電放電保護(hù)芯片焊接異常的裝置及方法,可以簡(jiǎn)便及準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)靜電放電保護(hù)芯片焊接異常的產(chǎn)品。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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