[發明專利]一種用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置及方法

有效

• 申請號: 201210282018.6
• 申請日: 2012-08-09
• 公開（公告）號: CN102830323A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 鄧明鋒;蔡榮茂;文松賢;莊益壯
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 深圳匯智容達專利商標事務所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

1.一種用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，包括：

連接器，用于與液晶顯示器中專用集成電路芯片ASIC的信號輸入端連接器進行插撥連接；

檢測電路，設置在所述連接器上，用于檢測靜電放電保護芯片是否正確焊接在所述ASIC上，并在所述靜電放電保護芯片焊接異常時進行提示。

2.如權利要求1所述用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，

所述連接器在內部設有地連接端及至少一個低壓差分信號LVDS連接端，所述地連接端的一端用于與所述ASIC的信號輸入端連接器中的地連接端相連接，所述至少一個LVDS連接端與所述ASIC的信號輸入端連接器中的至少一個LVDS連接端相連接。

3.如權利要求2所述用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，所述檢測電路包括：

直流電源，其負極與所述連接器的地連接端的另一端相連接；

至少一個連接在所述直流電源的正極與連接器的一個LVDS連接端之間的檢測支路，所述每一檢測支路均包括一個檢測部件，所述檢測部件正極連接所述直流電源的正極，所述檢測部件的負極連接所述LVDS連接端。

4.如權利要求3所述的用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，

所述每一檢測支路中還包含一個與所述檢測部件串接的限流電阻。

5.如權利要求4所述的用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，

當所述靜電放電保護芯片正確焊接在所述ASIC上，在所述連接器與所述ASIC的信號輸入端連接器電連接時，所述直流電源與每一條檢測支路均不能形成回路，所述每一檢測支路上的檢測部件以第一方式進行提示；

當所述靜電放電保護芯片未正確焊接在所述ASIC上時，在所述連接器與所述ASIC的信號輸入端連接器電連接時，所述直流電源與至少一條檢測支路與所述靜電保護芯片內部形成回路，所述檢測支路上的檢測部件以第二方式提示。

6.如權利要求5用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的裝置，其特征在于，所述每一檢測支路上的所述檢測部件為發光二極管或蜂鳴器；所述檢測部件以第一方式進行提示為所述發光二極管不發光或所述蜂鳴器不發出聲音；所述檢測部件以第二方式進行提示為所述發光二極管點亮發光或所述蜂鳴器發出聲音。

7.一種檢測靜電放電保護芯片焊接異常的步驟，其特征在于，包括：

將檢測裝置的連接器插入液晶顯示器中ASIC的信號輸入端連接器，實現電連接；

根據所述檢測裝置上的檢測電路的提示，確定所述靜電放電保護芯片是否正確焊接在所述ASIC上。

8.如權利要求7所述用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的方法，其特征在于，將檢測裝置的連接器插入液晶顯示器中ASIC的信號輸入端連接器，實現電連接的步驟具體為：

所述檢測裝置的連接器插入液晶顯示器中ASIC的信號輸入端連接器，使所述連接器在內部所設的地連接端與所述ASIC的信號輸入端連接器中的地連接端相連接，使所述連接器在內部所設至少一個LVDS連接端與所述ASIC的信號輸入端連接器中的至少一個LVDS連接端相連接。

9.如權利要求8所述的用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的方法，其特征在于，所述檢測步驟具體為：

當所述靜電放電保護芯片正確焊接在所述ASIC上，連接在所述檢測裝置的地連接端與LVDS連接端之間的相互串接的直流電源和檢測支路均不能形成回路，所述每一檢測支路上的檢測部件以第一方式進行提示；

當所述靜電放電保護芯片未正確焊接在所述ASIC上時，連接在所述檢測裝置的地連接端與至少一條LVDS連接端之間的相互串接的直流電源和檢測支路與所述靜電保護芯片內部形成回路，所述檢測支路上的檢測部件以第二方式進行提示。

10.如權利要求9用于檢測靜電放電保護芯片焊接異常的方法，其特征在于，所述每一檢測支路上的所述檢測部件為發光二極管或蜂鳴器；所述檢測部件以第一方式進行提示的步驟為所述發光二極管不發光或所述蜂鳴器不發出聲音；所述檢測部件以第二方式進行提示的步驟為所述發光二極管點亮發光或所述蜂鳴器發出聲音。