[發明專利]測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201210276942.3
• 申請日: 2012-08-06
• 公開（公告）號: CN102819126A
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: 文松賢;蔡榮茂;廖學士;莊益壯;鄧明鋒
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 歐陽啟明

【技術領域】

本發明涉及一種顯示面板的檢測領域，特別是涉及一種用于顯示面板的測試裝置及測試方法。

【背景技術】

液晶顯示器(Liquid?Crystal?Display，LCD)已被廣泛應用于各種電子產品中，液晶顯示面板是液晶顯示器的重要組成組件。

液晶顯示面板制造商在液晶顯示面板制成后，一般都要對液晶顯示面板進行測試以盡早發現問題產品以減少后續制程的浪費。目前，在液晶顯示面板的檢測中，通常在液晶顯示面板的陣列基板上設置測試線(Shorting?Bar)來連接液晶顯示面板的信號線。由測試線輸入測試信號至信號線，以檢測信號線是有斷路或缺陷，在完成測試后，利用激光將切斷所述測試線與信號線的連接。

由于通過上述液晶顯示面板的測試線路在檢測液晶顯示面板之后，需利用激光來切斷測試線，因而增加一道激光切割的制程，而不利于液晶顯示面板的產能和良率。再者，測試線的設置會占用面板的設置空間。此外，在切斷測試線之后，則無法再對顯示面板進行測試。

故，有必要提供一種顯示面板的測試裝置及測試方法，以解決現有技術所存在的問題。

【發明內容】

本發明提供一種顯示面板的測試裝置及測試方法，以解決現有顯示面板的檢測問題。

本發明的主要目的在于提供一種測試裝置，用于測試顯示面板，所述測試裝置包括：

測試基板；

至少一連接端子，設置于所述測試基板的一側，用于連接于所述顯示面板的信號線；

測試點，設置于所述測試基板上；以及

連接線，連接于所述連接端子及所述測試點之間。

在本發明的一實施例中，所述測試基板為印刷電路板或軟性印刷電路板。

在本發明的一實施例中，所述至少一連接端子為多個連接端子，所述連接端子之間的間距相同于所述信號線之間的間距。

在本發明的一實施例中，每一所述連接端子的寬度大于每一所述信號線的輸入端子的寬度。

在本發明的一實施例中，每一所述連接端子的寬度小于300微米。

在本發明的一實施例中，所述測試點包括第一測試點、第二測試點及第三測試點，所述第一測試點是用于測試所述顯示面板的紅色子像素，所述第二測試點是用于測試所述顯示面板的綠色子像素，所述第三測試點是用于測試所述顯示面板的藍色子像素。

在本發明的一實施例中，所述至少一連接端子為一個長條形連接端子，所述連接端子的長度大于所述信號線的排列長度。

在本發明的一實施例中，所述測試基板是用于測試所述顯示面板的數據線，所述測試裝置還包括另一測試基板，用于測試所述顯示面板的柵極線。

本發明的另一目的在于提供一種測試方法，用于測試顯示面板，所述測試方法包括：

提供一測試裝置，其中所述測試裝置包括測試基板、至少一連接端子、測試點及連接線，所述連接端子是設置于所述測試基板的一側，所述測試點設置于所述測試基板上，所述連接線連接于所述連接端子及所述測試點之間；

接合所述測試裝置的所述連接端子于所述顯示面板的信號線上；以及

由所述測試裝置的所述測試點來輸入測試信號至所述顯示面板的所述信號線。

在本發明的一實施例中，所述測試裝置的所述連接端子是通過異方性導電膜來接合于所述顯示面板的信號線。

本發明的測試裝置及測試方法可用于測試顯示面板的信號線或像素是否正常。通過本發明的測試裝置，可不需設置測試線于顯示面板的基板上，因而提升基板的利用率。且不需通過激光來切斷基板上的測試線，以避免額外的激光切斷步驟，而可避免激光切斷步驟對液晶顯示面板的影響，以確保液晶顯示面板的產品良率。再者，通過本發明的測試裝置，可對個別的顯示面板進行抽樣測試或多次測試，以符合顯示面板的檢測需求或改善顯示面板的檢測質量。

為讓本發明的上述內容能更明顯易懂，下文特舉優選實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下：

【附圖說明】

圖1為本發明測試裝置與顯示面板的一實施例的示意圖；

圖2為本發明測試裝置的連接端子與顯示面板的信號線的一實施例的示意圖；

圖3為本發明測試裝置的連接端子與顯示面板的信號線的一實施例的示意圖；以及

圖4為本發明測試裝置的連接端子與顯示面板的信號線的另一實施例的示意圖。

【具體實施方式】