[發(fā)明專利]測(cè)試裝置及測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210276942.3
• 申請(qǐng)日: 2012-08-06
• 公開（公告）號(hào): CN102819126A
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 文松賢;蔡榮茂;廖學(xué)士;莊益壯;鄧明鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13;G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 歐陽(yáng)啟明

1.一種測(cè)試裝置，用于測(cè)試顯示面板，其特征在于：所述測(cè)試裝置包括：

測(cè)試基板；

至少一連接端子，設(shè)置于所述測(cè)試基板的一側(cè)，用于連接于所述顯示面板的信號(hào)線；

測(cè)試點(diǎn)，設(shè)置于所述測(cè)試基板上；以及

連接線，連接于所述連接端子及所述測(cè)試點(diǎn)之間。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試基板為印刷電路板或軟性印刷電路板。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于：所述至少一連接端子為多個(gè)連接端子，所述連接端子之間的間距相同于所述信號(hào)線之間的間距。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于：每一所述連接端子的寬度大于每一所述信號(hào)線的輸入端子的寬度。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于：每一所述連接端子的寬度小于300微米。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試點(diǎn)包括第一測(cè)試點(diǎn)、第二測(cè)試點(diǎn)及第三測(cè)試點(diǎn)，所述第一測(cè)試點(diǎn)是用于測(cè)試所述顯示面板的紅色子像素，所述第二測(cè)試點(diǎn)是用于測(cè)試所述顯示面板的綠色子像素，所述第三測(cè)試點(diǎn)是用于測(cè)試所述顯示面板的藍(lán)色子像素。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于：所述至少一連接端子為一個(gè)長(zhǎng)條形連接端子，所述連接端子的長(zhǎng)度大于所述信號(hào)線的排列長(zhǎng)度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試基板是用于測(cè)試所述顯示面板的數(shù)據(jù)線，所述測(cè)試裝置還包括另一測(cè)試基板，用于測(cè)試所述顯示面板的柵極線。

9.一種測(cè)試方法，用于測(cè)試顯示面板，其特征在于：所述測(cè)試方法包括：

提供一測(cè)試裝置，其中所述測(cè)試裝置包括測(cè)試基板、至少一連接端子、測(cè)試點(diǎn)及連接線，所述連接端子是設(shè)置于所述測(cè)試基板的一側(cè)，所述測(cè)試點(diǎn)設(shè)置于所述測(cè)試基板上，所述連接線連接于所述連接端子及所述測(cè)試點(diǎn)之間；

接合所述測(cè)試裝置的所述連接端子于所述顯示面板的信號(hào)線上；以及

由所述測(cè)試裝置的所述測(cè)試點(diǎn)來(lái)輸入測(cè)試信號(hào)至所述顯示面板的所述信號(hào)線。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試方法，其特征在于：所述測(cè)試裝置的所述連接端子是通過(guò)異方性導(dǎo)電膜來(lái)接合于所述顯示面板的信號(hào)線。