[發(fā)明專利]一種比對檢測兩孔距的檢具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210274763.6
• 申請日: 2012-08-03
• 公開（公告）號: CN102798328A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 左麟;曹彥
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶百吉四興壓鑄有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢具，尤其是一種比對檢測兩孔距的檢具。

背景技術(shù)

目前，工廠在測量同一底板上的兩個(gè)軸孔孔距時(shí)，通常采用三坐標(biāo)法檢測。其缺點(diǎn)在于：第一，三坐標(biāo)檢測效率較低且設(shè)備昂貴；第二，產(chǎn)品清潔度對三坐標(biāo)檢測的結(jié)果影響較大，由于車間灰塵較多，需要在專門的房間進(jìn)行三坐標(biāo)檢測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明意在提供一種檢測效率高、成本低廉、可在車間內(nèi)使用的檢具。

本發(fā)明的目的可以通過以下措施來達(dá)到：一種比對檢測兩孔距的檢具，包括底板，所述底板上依次安裝有第一軸孔定位裝置、線性滑軌和千分表，所述線性滑軌上安裝有移動板，所述移動板上設(shè)有第二軸孔定位裝置和擋塊，所述擋塊與千分表的表頭接觸；所述移動板上配有回位彈簧。

上述技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)的區(qū)別在于：第一軸孔定位裝置和第二軸孔定位裝置可對待測件的第一軸孔和第二軸孔定位，定位過程中第二軸孔定位裝置可帶動移動板在滑軌上滑動，通過千分表測定移動板上擋塊的相對移動量，從而檢測出第一軸孔到第二軸孔之間的實(shí)際孔距。

進(jìn)一步地，所述第一軸孔定位裝置包括第一軸孔芯軸以及與之間隙配合的第一軸孔滑套，第二軸孔定位裝置包括第二軸孔芯軸以及與之間隙配合的第二軸孔滑套；所述第一軸孔滑套和第二軸孔滑套均為錐度18′的錐度定位套；通過滑套和芯軸的配合，使得下壓待測件時(shí)，能對待測件的曲軸孔和凸輪軸孔進(jìn)行自定心，而滑套為錐度定位套可保證待測件下壓在合適的高度。

進(jìn)一步地，所述底板周邊設(shè)有等高塊；在下壓待測件的過程中，可保證待測件各部分保持等高。

該檢具成本低廉、使用方便、檢測效率高，具有較好的實(shí)用性。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明：

圖1為本發(fā)明一種比對檢測兩孔距的檢具實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明一種比對檢測兩孔距的檢具實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例：參照圖1、圖2，一種比對檢測左箱體上曲軸孔到凸輪軸孔間距的檢具，包括底板1，底板上從左至右依次安裝有曲軸孔定位裝置2、線性滑軌8和千分表3。線性滑軌8上安裝有移動板4，移動板4通過滑塊可在線性滑軌8上滑動，移動板4的板面左端安裝有凸輪軸定位裝置5，板面右端安裝有擋塊6，擋塊6與千分表3的表頭接觸，移動板4的右端配有回位彈簧。底板1周邊設(shè)有等高塊7和定位銷。

所述曲軸定位裝置2包括曲軸孔芯軸21以及與之間隙配合的曲軸孔滑套22，曲軸孔滑套22下端連接有彈簧23，曲軸孔芯軸21上端設(shè)有限位板24。所述凸輪軸孔定位裝置5包括凸輪軸孔芯軸51以及與之間隙配合的凸輪軸孔滑套52，凸輪軸孔滑套52下端連接有彈簧，凸輪軸孔芯軸51上端設(shè)有限位板。

所述曲軸孔滑套22和凸輪軸孔滑套52均為錐度18′的錐度定位套。?

使用過程：先用三坐標(biāo)檢測兩件標(biāo)準(zhǔn)件，并記錄實(shí)測數(shù)據(jù)，將標(biāo)準(zhǔn)件裝入檢具上，將千分表3指針調(diào)整與三坐標(biāo)實(shí)測數(shù)據(jù)一致。待測工件的曲軸孔套入曲軸孔芯軸21，凸輪軸孔裝入凸輪軸孔芯軸51，向下壓工件時(shí)，兩孔定位心后，帶動移動板4在線性滑軌8上移動，檔塊6與千分表3的位置改變，千分表3上顯示出檔塊6的相對移動量，在表盤上讀出被檢測產(chǎn)品的實(shí)測數(shù)據(jù)。

以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明結(jié)構(gòu)的前提下，還可以作出若干變形和改進(jìn)，這些也應(yīng)該視為本發(fā)明的保護(hù)范圍，這些都不會影響本發(fā)明實(shí)施的效果和專利的實(shí)用性。