[發明專利]一種比對檢測兩孔距的檢具在審
| 申請號： | 201210274763.6 | 申請日： | 2012-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN102798328A | 公開（公告）日： | 2012-11-28 |
| 發明（設計）人： | 左麟;曹彥 | 申請（專利權）人： | 重慶百吉四興壓鑄有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/14 | 分類號： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 400707 重*** | 國省代碼： | 重慶;85 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 兩孔距 | ||
【權利要求書】：
1.一種比對檢測兩孔距的檢具，包括底板，其特征在于：所述底板上依次安裝有第一軸孔定位裝置、線性滑軌和千分表，所述線性滑軌上安裝有移動板，所述移動板上設有第二軸孔定位裝置和擋塊，所述擋塊與千分表的表頭接觸；所述移動板上配有回位彈簧。
2.根據權利要求1所述的比對檢測兩孔距的檢具，其特征在于：所述第一軸孔定位裝置包括第一軸孔芯軸以及與之間隙配合的第一軸孔滑套，第二軸孔定位裝置包括第二軸孔芯軸以及與之間隙配合的第二軸孔滑套。
3.根據權利要求2所述的比對檢測兩孔距的檢具，其特征在于：所述第一軸孔滑套和第二軸孔滑套均為錐度18′的錐度定位套。
4.根據權利要求1所述的比對檢測兩孔距的檢具，其特征在于：所述底板周邊設有等高塊。
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