[發明專利]用于高效率參數修改的系統和方法

無效

• 申請號: 201210273655.7
• 申請日: 2012-08-02
• 公開（公告）號: CN103034555A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 夏海濤;楊少華;K·M·哈爾;M·A·蘭德瑞斯
• 申請（專利權）人: LSI公司
• 主分類號: G06F11/08
• 分類號: G06F11/08
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 劉倜

技術領域

本發明涉及用于系統特征化的系統和方法，尤其涉及用于調諧數據處理系統的系統和方法。

背景技術

各種存儲系統包括實現有一個或多個可修改變量的數據處理電路，其可以被調諧以改善處理性能。在一些情況下，向數據處理電路提供已知的數據模式（data?pattern），并在改變所述可修改變量中的一個或多個的同時監視數據處理電路的錯誤率。繼續這種處理過程，直到識別出對于所述可修改變量的可接受的值。這樣的方法利用用于所述已知模式的存儲區，從而減少了可用存儲區，并且獲得有意義的錯誤率可能要花費相當多的時間，這增加了制造存儲系統的成本。

因此，至少出于上述原因，現有技術中需要用于數據處理的改進的系統和方法。

發明內容

本發明涉及用于系統特征化的系統和方法，尤其涉及用于調諧數據處理系統的系統和方法。

本發明的一個或多個實施例提供了數據處理系統，其包括：數據檢測器電路；數據解碼器電路；可靠性監視電路和參數修改控制電路。數據檢測器電路可操作用于向由解碼輸出引導的第一數據集應用數據檢測算法以產生檢測輸出。數據解碼器電路可操作用于向第二數據集應用數據解碼算法以產生解碼輸出。第二數據集是從第一數據集導出的?？煽啃员O視電路可操作用于計算錯誤率?？梢灾辽俨糠值鼗趶慕獯a輸出導出的第三數據集或第一數據集計算錯誤率。參數修改電路可操作用于：選擇用于參數的第一值并存儲與所述第一值對應的錯誤率的第一實例；選擇用于所述參數的第二值并存儲與所述第二值對應的錯誤計數的第二實例；以及至少部分地基于錯誤率的第一實例和錯誤率的第二實例的比較選擇第一值和第二值之一。選擇第二值包括：至少部分地基于第一值確定搜索方向；以及使用搜索值和步長計算第二值。在一些情況下，步長是可編程的?？梢栽谌舾刹煌K端裝置或系統中實現實施例。例如，可以在存儲裝置或接收裝置中實現實施例。此外，在一些情況下，可以將數據處理系統實現為集成電路的一部分。

在上述實施例的一些實例中，計算錯誤率包括將第三數據集與已知的數據集進行比較。在一些這樣的實例中，第三數據集是硬判決輸出的集合。所述數據檢測算法可以是，但不限于，最大后驗數據檢測算法或維特比檢測算法。在一些情況下，所述數據解碼算法是低密度奇偶校驗算法。在特定情況下，所述輸出是從解碼輸出導出的第三數據集。在這種情況下，可靠性監視電路可以包括：比較器電路，可操作用于將所述第三數據集的實例與已知的數據集進行比較；以及計數器電路，可操作用于在所述第三數據集的實例不等于所述已知的數據集的對應實例時增加，以得出錯誤率。在一些情況下，所述輸出是包括軟數據的第一數據集。在這種情況下，可靠性監視電路可以包括：比較器電路，操作用于將所述軟數據的實例與閾值進行比較；以及計數器電路，可操作用于在所述軟數據的實例小于閾值時增加，以得出錯誤率。在特定情況下，閾值是可編程的。

本發明的一些實施例提供了用于數據處理的方法。所述方法包括：利用數據檢測器電路對第一數據集執行數據檢測算法以產生檢測輸出；利用數據解碼器電路對從所述第一數據集導出的第二數據集執行數據解碼算法以產生解碼輸出；至少部分地基于從解碼輸出導出的第三數據集或所述第一數據集之一計算錯誤率；選擇用于參數的第一值并存儲與所述第一值對應的錯誤率的第一實例；選擇用于所述參數的第二值并存儲與所述第二值對應的錯誤計數的第二實例，并至少部分地基于所述錯誤率的第一實例和所述錯誤率的第二實例的比較選擇第一值和第二值之一。選擇第二值包括：至少部分地基于第一值確定搜索方向；以及使用搜索值和步長計算第二值。在一些情況下，第三數據集是硬判決輸出的集合。在多種情況下，步長是可編程的。

在一些情況下，所述輸出是從解碼輸出導出的第三數據集。在一些這樣的情況下，計算錯誤率包括：將所述第三數據集的實例與已知的數據集進行比較；以及對不等于所述已知的數據集的對應實例的第三數據集的實例的數量進行計數以得出錯誤率。在其他情況下，所述輸出是包括軟數據的第一數據集。在一些這樣的情況下，計算錯誤率包括：將所述軟數據的實例與閾值進行比較；以及對小于閾值的所述軟數據的實例的數量進行計數以得出錯誤率。在特定情況下，閾值是可編程的。