[發(fā)明專利]用于高效率參數(shù)修改的系統(tǒng)和方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210273655.7
• 申請日: 2012-08-02
• 公開（公告）號: CN103034555A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 夏海濤;楊少華;K·M·哈爾;M·A·蘭德瑞斯
• 申請（專利權(quán)）人: LSI公司
• 主分類號: G06F11/08
• 分類號: G06F11/08
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 11038
• 代理人: 劉倜

1.一種數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)包括：

數(shù)據(jù)檢測器電路，操作用于對由解碼輸出引導(dǎo)的第一數(shù)據(jù)集應(yīng)用數(shù)據(jù)檢測算法以產(chǎn)生檢測輸出；

數(shù)據(jù)解碼器電路，操作用于向第二數(shù)據(jù)集應(yīng)用數(shù)據(jù)解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出，其中所述第二數(shù)據(jù)集是從所述第一數(shù)據(jù)集導(dǎo)出的；

可靠性監(jiān)視電路，操作用于至少部分地基于從以下選擇的輸出計算錯誤率：從所述解碼輸出導(dǎo)出的第三數(shù)據(jù)集和所述第一數(shù)據(jù)集；

參數(shù)修改控制電路，操作用于：

選擇用于參數(shù)的第一值并存儲與所述第一值對應(yīng)的錯誤率的第一實例；

選擇用于所述參數(shù)的第二值并存儲與所述第二值對應(yīng)的錯誤計數(shù)的第二實例，其中選擇所述第二值包括：至少部分地基于所述第一值確定搜索方向；以及利用所述搜索值和步長計算所述第二值；以及

至少部分地基于所述錯誤率的第一實例和所述錯誤率的第二實例的比較選擇所述第一值和所述第二值之一。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中計算錯誤率包括將所述第三數(shù)據(jù)集與已知的數(shù)據(jù)集進行比較。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述第三數(shù)據(jù)集是硬判決輸出的集合。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)檢測算法是從最大后驗數(shù)據(jù)檢測算法和維特比檢測算法中選擇的。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)解碼算法是低密度奇偶校驗算法。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述輸出是從所述解碼輸出導(dǎo)出的第三數(shù)據(jù)集，并且其中所述可靠性監(jiān)視電路包括：

比較器電路，操作用于將所述第三數(shù)據(jù)集的實例與已知的數(shù)據(jù)集進行比較；以及

計數(shù)器電路，操作用于在所述第三數(shù)據(jù)集的實例不等于所述已知的數(shù)據(jù)集的對應(yīng)實例時增加，以得出所述錯誤率。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述輸出是所述第一數(shù)據(jù)集，其中所述第一數(shù)據(jù)集包括軟數(shù)據(jù)，并且其中所述可靠性監(jiān)視電路包括：

比較器電路，操作用于將所述軟數(shù)據(jù)的實例與閾值進行比較；以及

計數(shù)器電路，操作用于在所述軟數(shù)據(jù)的實例小于所述閾值時增加，以得出所述錯誤率。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述閾值是可編程的。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述步長是可編程的。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)被實現(xiàn)為從存儲裝置和接收裝置中選擇的裝置的一部分。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)被實現(xiàn)為集成電路的一部分。

12.一種用于數(shù)據(jù)處理的方法，所述方法包括：

利用數(shù)據(jù)檢測器電路對第一數(shù)據(jù)集執(zhí)行數(shù)據(jù)檢測算法以產(chǎn)生檢測輸出；

利用數(shù)據(jù)解碼器電路對從所述第一數(shù)據(jù)集導(dǎo)出的第二數(shù)據(jù)集執(zhí)行數(shù)據(jù)解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出；

至少部分地基于從由所述解碼輸出導(dǎo)出的第三數(shù)據(jù)集和所述第一數(shù)據(jù)集中選擇的輸出計算錯誤率；

選擇用于參數(shù)的第一值并存儲與所述第一值對應(yīng)的錯誤率的第一實例；

選擇用于所述參數(shù)的第二值并存儲與所述第二值對應(yīng)的錯誤計數(shù)的第二實例，其中選擇所述第二值包括：至少部分的基于所述第一值確定搜索方向；以及利用搜索值和步長計算所述第二值；以及

至少部分的基于所述錯誤率的第一實例和所述錯誤率的第二實例的比較選擇所述第一值和所述第二值之一。

13.根據(jù)權(quán)利12要求所述的方法，其中所述輸出是從所述解碼輸出導(dǎo)出的所述第三數(shù)據(jù)集，并且其中計算錯誤率包括：

將所述第三數(shù)據(jù)集的實例與已知的數(shù)據(jù)集進行比較；以及

對不等于所述已知的數(shù)據(jù)集的對應(yīng)實例的所述第三數(shù)據(jù)集的實例的數(shù)量進行計數(shù)以得出所述錯誤率。

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述輸出是所述第一數(shù)據(jù)集，其中所述第一數(shù)據(jù)集包括軟數(shù)據(jù)，并且其中計算錯誤率包括：

將所述軟數(shù)據(jù)的實例與閾值進行比較；以及

對小于所述閾值的所述軟數(shù)據(jù)的實例的數(shù)量進行計數(shù)以得出所述錯誤率。

15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中所述閾值是可編程的。